[发明专利]一种轨道偏移测量基准设定方法、装置及系统有效
| 申请号： | 201710064846.5 | 申请日： | 2017-02-05 |
| 公开（公告）号： | CN108398106B | 公开（公告）日： | 2021-03-19 |
| 发明（设计）人： | 钱浙滨 | 申请（专利权）人： | 钱浙滨 |
| 主分类号： | G01B11/30 | 分类号： | G01B11/30;B61K9/08 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 200092 上海市杨*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明给出一种轨道偏移测量基准设定方法、装置及系统，所述方法包括：在第一位置处设定轨道偏移测量用第一基准点，在第二位置处设定轨道偏移测量用第二基准点；所述第一基准点和第二基准点分别与行驶轨保持确定的位置对应关系，和/或使用轨道面控制点确定所述第一基准点和第二基准点的位置坐标；通过所述第一基准点向所述第二基准点发送第一激光束，该第一激光束用作轨道偏移测量的第一基准线，该第一激光束被位于其光路上的光耦和器分离出部分光能量用于轨道偏移测量。成本低、效率高、误差小，具有实用性。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 轨道 偏移 测量 基准 设定 方法 装置 系统 | ||
【主权项】：
1.一种轨道偏移测量基准设定方法，包括：在第一位置处设定轨道偏移测量用第一基准点，在第二位置处设定轨道偏移测量用第二基准点；所述第一基准点和第二基准点分别与行驶轨保持确定的位置对应关系，和/或使用轨道面控制点确定所述第一基准点和第二基准点的位置坐标；通过所述第一基准点向所述第二基准点发送第一激光束，该第一激光束用作轨道偏移测量的第一基准线，该第一激光束被位于其光路上的光耦和器分离出部分光能量用于轨道偏移测量。
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