[发明专利]用于微型同步隔磁电机的表层探损方法和装置

摘要

本发明提供了用于微型同步隔磁电机的表层探损方法和装置。表层探损方法包括：将待测电机置于U型磁轭的U型腔内，并在待测电机的待测表面上放置接收棒，其中，U型磁轭的水平部套有第一线圈，且该第一线圈连接交流电源，接收棒上套有第二线圈；接通交流电源，以使第一线圈接入输入电流，以预定采样周期对第二线圈中当前生成的电流信号进行采样，以获得该电流信号对应的待测特征参数；将待测特征参数与参考特征参数进行比较，以根据比较结果确定待测特征参数对应的损伤等级，作为待测电机的表面探损结果。表层探损装置能够执行上述方法的处理。本发明的上述表层探损方法和装置，能够有效地适用于电机表层的损伤检测，克服现有技术的不足。

主权项

用于微型同步隔磁电机的表层探损方法，其特征在于，所述表层探损方法包括：将待测电机置于U型磁轭的U型腔内，并在所述待测电机的待测表面上放置接收棒，其中，所述U型磁轭的水平部套有第一线圈，且该第一线圈连接交流电源，所述接收棒上套有第二线圈；接通所述交流电源使所述待测电机处于工作状态，以使所述第一线圈接入输入电流，以预定采样周期对所述第二线圈中当前生成的电流信号进行采样，以获得该电流信号对应的待测特征参数；将所述待测特征参数与参考特征参数进行比较，以根据比较结果确定所述待测特征参数对应的损伤等级，作为待测电机的表面探损结果。