[发明专利]用二进制相移键控测试信号测量出测量仪的幅值相位响应有效

专利信息
申请号: 201710058343.7 申请日: 2017-01-23
公开(公告)号: CN107340427B 公开(公告)日: 2021-05-04
发明(设计)人: E·M·巴里什 申请(专利权)人: 是德科技股份有限公司
主分类号: G01R23/10 分类号: G01R23/10;G01R23/165
代理公司: 北京坤瑞律师事务所 11494 代理人: 封新琴
地址: 美国加利*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 在此公开用二进制相移键控测试信号测量出测量仪的幅值相位响应。系统和方法(800)采用异或门(110),具有:第一输入端,其配置为接收具有RF载波频率的RF载波信号(15);第二输入端,其配置为接收具有方波频率的方波信号(25);输出端,其配置为向待测试的信号处理通道(120)输出包括方波信号(25)调制的RF载波信号(15)的二进制相移键控(BPSK)信号。数字信号处理器(130)配置为从信号处理通道(120)接收信号处理通道(120)响应于BPSK信号(115)产生的同相(I)和正交相(Q)数据,并且处理I和Q数据,以确定作为频率函数的信号处理通道(120)的幅值响应(510)和相位响应(520)。
搜索关键词: 二进制 相移 键控 测试 信号 测量 测量仪 相位 响应
【主权项】:
一种系统,包括:异或门(110),具有:第一输入端,其配置为接收具有RF载波频率的RF载波信号(15);第二输入端,其配置为接收具有方波频率的方波信号(25);输出端,其配置为输出包括所述方波信号(25)调制的RF载波信号(15)的二进制相移键控(BPSK)信号;测量通道(240),其具有输入端和输出端,其中,连接该输入端以接收BPSK信号(115),并且测量通道(240)配置为在该输出端提供BPSK信号(115)的同相(I)和正交相(Q)时间记录;获取存储器(332),其配置为接收并在其中存储所述I和Q时间记录;以及数字信号处理器(130),其配置为:求取所述I和Q时间记录的导数;找到所述I和Q时间记录中的最高冲激响应,并且循环旋转所述I和Q时间记录,使得所述最高冲激响应出现在时间零处;求取循环旋转的I和Q时间记录的快速傅里叶变换,仅保留所述方波频率的各谐波和各频率处的FFT数据;针对方波信号(25)的频率特性校正所述FFT数据的幅值,以获得所述测量仪(100)的测量通道(240)的幅值响应(510);在测量出的频率跨度上,展开幅值校正的FFT数据的相位响应(520);求取展开的幅值校正的FFT数据的相位响应(520)的导数,并去除任何残余组延迟偏移量,以获得所述测量仪(100)的测量通道(240)的组延迟响应(520);以及对所述组延迟响应(520)积分,以获得所述测量通道(240)的相位响应(520)。
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