[发明专利]多转塔式测试设备有效
| 申请号： | 201710057396.7 | 申请日： | 2017-01-26 |
| 公开（公告）号： | CN108362914B | 公开（公告）日： | 2021-01-29 |
| 发明（设计）人： | 傅廷明 | 申请（专利权）人： | 华邦电子股份有限公司 |
| 主分类号： | G01R1/04 | 分类号： | G01R1/04;G01R31/00;B65G47/91 |
| 代理公司： | 北京三友知识产权代理有限公司 11127 | 代理人： | 乔媛;汤在彦 |
| 地址： | 中国台*** | 国省代码： | 台湾;71 |
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| 摘要： | 本发明提供一种多转塔式测试设备，适于对多个电子元件进行测试，包括一主转塔以及一测试转塔，主转塔包括多个吸嘴，测试转塔包括多个传送架以及一测试单元，该多个吸嘴适于各自将该多个电子元件置于该多个传送架之中，测试单元包括多个测试头以及多个测试座，其中，该多个传送架于一第一位置以及一第二位置之间移动，当该多个传送架位于该第一位置时，该多个吸嘴各自对该多个传送架取放该多个电子元件，当该多个传送架位于该第二位置时，该多个传送架各自对应该多个测试座，该多个测试头各自插入该多个传送架以及该多个测试座之中以对该多个电子元件进行测试。通过本发明可大幅增加电子元件测试数量，提高测试效率，降低测试成本。 | ||
| 搜索关键词： | 塔式 测试 设备 | ||
【主权项】：
1.一种多转塔式测试设备，适于对多个电子元件进行测试，其特征在于，所述多转塔式测试设备包括：一主转塔，包括多个吸嘴；以及一测试转塔，包括：多个传送架；以及一测试单元，包括多个测试头以及多个测试座，其中，所述多个传送架于一第一位置以及一第二位置之间移动，当所述多个传送架位于所述第一位置时，所述多个吸嘴各自对所述多个传送架取放所述多个电子元件，当所述多个传送架位于所述第二位置时，所述多个传送架各自对应所述多个测试座，所述多个测试头各自插入所述多个传送架以及所述多个测试座之中以对所述多个电子元件进行测试。
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