[发明专利]一种用于烃源岩多显微组分同位素的分析系统及方法

摘要

本发明公开了一种用于烃源岩多显微组分同位素的分析系统，包括显微激光装置，其包括激光器、显微镜和样品池，所述样品池设有进气口和出气口；氧化富集装置，其包括载气装置，其通过管路与所述样品池的进气口连通；氧化装置，其入口通过管路与所述样品池的出气口连通；富集装置，其入口通过管路与所述氧化装置的出口连通，出口通过管路与所述分析装置连通；固氧装置，通过三通连接于所述氧化装置与所述富集装置之间；分析装置，其包括进样器和同位素质谱仪。利用本发明系统和方法对烃源岩中的多种显微组分进行同位素分析，分析灵敏度高，可对多种烃源岩样品进行分析，应用范围宽。

主权项

1.一种用于烃源岩多显微组分同位素的分析系统，包括：显微激光装置，其包括样品池，所述样品池设有进气口和出气口；氧化富集装置，其包括：载气装置，所述载气装置的出口通过管路与所述样品池的进气口连通，用于向所述样品池内输送载气；氧化装置，所述氧化装置的入口通过管路与所述样品池的出气口连通，用于接收来自所述样品池的产物；富集装置，所述富集装置的入口通过管路与所述氧化装置的出口连通，用于接收来自所述氧化装置的氧化组分，所述富集装置的出口通过管路与所述分析装置连通；固氧装置，通过三通连接于所述氧化装置与所述富集装置之间；分析装置，其包括进样器和同位素质谱仪，所述进样器的一端通过管路与所述富集装置的出口连通，另一端连通所述同位素质谱仪，用于将来自于所述氧化富集装置的分析组分送入所述同位素质谱仪。