[发明专利]一种用于烃源岩多显微组分同位素的分析系统及方法

说明书

本发明公开了一种用于烃源岩多显微组分同位素的分析系统，包括显微激光装置，其包括激光器、显微镜和样品池，所述样品池设有进气口和出气口；氧化富集装置，其包括载气装置，其通过管路与所述样品池的进气口连通；氧化装置，其入口通过管路与所述样品池的出气口连通；富集装置，其入口通过管路与所述氧化装置的出口连通，出口通过管路与所述分析装置连通；固氧装置，通过三通连接于所述氧化装置与所述富集装置之间；分析装置，其包括进样器和同位素质谱仪。利用本发明系统和方法对烃源岩中的多种显微组分进行同位素分析，分析灵敏度高，可对多种烃源岩样品进行分析，应用范围宽。

技术领域

本发明涉及一种用于烃源岩多显微组分同位素的分析系统及方法，属于烃源岩评价分析领域。

背景技术

烃源岩中的有机显微组分是油气资源的主要来源，由于其为原始成烃生物的化石残体，因此其地球化学特征能直接用于油源对比等关键勘探应用，但通常个体较小(微米级)。因此微区分析，包括显微镜观察、光学特征描述等。显微组分的化学组成可以应用激光微裂解与色谱－质谱联用装置来实现。然而当显微组分的分子组成具有较大相似性时，其同位素组成特征则更加能够反应其来源差异等信息。

发明内容

本发明的目的是针对现有技术中的不足，提供一种用于烃源岩多显微组分同位素的分析系统及方法，实现代表烃源岩中油气物质主要来源的不同有机显微组分成分分析，通过获取的碳同位素信息，与原油的碳同位素可直接进行对比，从而可以确定烃源岩中的多种显微组分与原油的亲缘关系。

根据本发明的一个方面，提供一种用于烃源岩多显微组分同位素的分析系统，包括：

显微激光装置，其包括样品池，所述样品池设有进气口和出气口；

氧化富集装置，其包括：

载气装置，所述载气装置的出口通过管路与所述样品池的进气口连通，用于向所属样品池内输送载气；

氧化装置，所述氧化装置的入口通过管路与所述样品池的出气口连通，用于接收来自所述样品池的产物；

富集装置，所述富集装置的入口通过管路与所述氧化装置的出口连通，用于 接收来自所述氧化装置的氧化组分，所述富集装置的出口通过管路与所述分析装置连通；

固氧装置，通过三通连接于所述氧化装置与所述富集装置之间；

分析装置，其包括进样器和同位素质谱仪，所述进样器的一端通过管路与所述富集装置的出口连通，另一端连通所述同位素质谱仪，用于将来自于所述氧化富集装置的分析组分送入所述同位素质谱仪。

根据本发明的一些实施方式，所述显微激光装置还包括激光器和显微镜，所述激光器与所述显微镜组装在同一台面上，所述激光器产生的激光光束通过所述显微镜的光路调整反射镜射到样品池的待测样品上。

根据本发明的一个优选实施例，所述载气装置包括载气瓶，所述载气为氦气。

根据本发明的一些实施方式，所述氧化装置包括高温氧化炉。在一些具体的实施例中，所述高温氧化炉的工作温度为800–1200℃。

根据本发明的一个优选实施例，所述富集装置包括冷阱。

根据本发明的一些实施方式，所述冷阱为U型冷阱，在所述U型冷阱的底部开孔，孔内设置螺栓；在非运行时，可打开所述螺栓，将冷阱内富集的水放出。

本发明通过对冷阱进行改造，不用拆卸冷阱即可放出其中的水分，一方面简化了操作，避免了经常拆卸冷阱造成的系统污染；另一方面可避免氧化产生的水分累积在冷阱内，降低冷阱的富集效率。此外，残留的水分进入同位素质谱仪也会影响实际分析效果。

在一些具体的实施例中，所述冷阱的冷却液包括液氮和酒精。