[发明专利]光谱测量系统及测量方法在审
| 申请号： | 201710054763.8 | 申请日： | 2017-01-24 |
| 公开（公告）号： | CN106841118A | 公开（公告）日： | 2017-06-13 |
| 发明（设计）人： | 戴琼海;高彬;张晶;邵航;范静涛 | 申请（专利权）人： | 清华大学 |
| 主分类号： | G01N21/55 | 分类号： | G01N21/55;G01J3/28 |
| 代理公司： | 北京清亦华知识产权代理事务所(普通合伙)11201 | 代理人： | 张润 |
| 地址： | 10008*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种光谱测量系统及测量方法，其中，系统包括微型光谱仪，用于通过采集光路采集待测样品的光谱，并通过滤光片进行滤波分光；标准反射板，用于反射可见光光谱能量，以初始光谱信息；移动终端，移动终端具有LED灯和摄像头，用于对待测样品进行照明，并且获取初始参考光谱强度，并且获取照相机的暗噪声强度和待测样品的光谱强度，以根据初始参考光谱强度、暗噪声强度和待测样品的光谱强度得到待测样品的光谱反射率。该系统可以在任何不同的采集环境下获取相同标准的光谱数据，提高测量的适用性，并且有效地保证光谱数据的准确性和稳定性。 | ||
| 搜索关键词： | 光谱 测量 系统 测量方法 | ||
【主权项】：
一种光谱测量系统，其特征在于，包括：微型光谱仪，用于通过采集光路采集待测样品的光谱，并通过滤光片进行滤波分光；标准反射板，用于反射可见光光谱能量，以初始光谱信息；以及移动终端，所述移动终端具有LED灯和摄像头，用于对所述待测样品进行照明，并且获取初始参考光谱强度，并且获取所述照相机的暗噪声强度和所述待测样品的光谱强度，以根据所述初始参考光谱强度、所述暗噪声强度和待测样品的光谱强度得到所述待测样品的光谱反射率。
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