[发明专利]检测信号发射设备的发射性能的系统及方法有效

专利信息
申请号: 201710021405.7 申请日: 2017-01-12
公开(公告)号: CN106850089B 公开(公告)日: 2020-05-19
发明(设计)人: 郭超;屈可夫 申请(专利权)人: 普联技术有限公司
主分类号: H04B17/15 分类号: H04B17/15
代理公司: 广州三环专利商标代理有限公司 44202 代理人: 麦小婵;郝传鑫
地址: 518000 广东省深圳市南山区深南路科技*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 发明公开了一种检测信号发射设备的发射性能的系统,包括:射频耦合器接收待测的信号发射设备发送的发射信号,对发射信号进行耦合生成耦合信号,输出耦合信号到射频开关;控制处理器接收到用户发送的请求检测信号发射设备发送的第i路发射信号的请求信号时,根据所述请求信号控制射频开关切换链路,以使第i路发射信号对应的耦合信号传送至测试仪器;测试仪器从第i路发射信号对应的耦合信号中提取数据包,自动触发对数据包的检测,并输出有效检测结果。本发明还公开了一种检测信号发射设备的发射性能的方法。采用本发明实施例,能自动根据用户选择的发射设备发射的一路或多路信号进行检测,无需手动拆装置拓扑来更换测试通路,实现测试自动化。
搜索关键词: 检测 信号 发射 设备 性能 系统 方法
【主权项】:
一种检测信号发射设备的发射性能的系统,其特征在于,包括:测试仪器、N个射频耦合器、射频合路器、衰减装置、射频开关和控制处理器;所述射频耦合器,用于接收待测的信号发射设备发送的一路发射信号,对所述发射信号进行耦合生成耦合信号,输出所述耦合信号到所述射频开关,还用于传送所述发射信号给所述射频合路器;所述控制处理器,用于接收用户发送的请求检测所述信号发射设备发送的第i路发射信号的请求信号时,根据所述请求信号控制所述射频开关切换链路,以使所述第i路发射信号对应的耦合信号传送至所述测试仪器;N≥i;所述测试仪器,用于从所述第i路发射信号对应的耦合信号中提取数据包,对所述数据包进行检测,并输出检测结果;所述射频合路器,用于对接收所述N个射频耦合器传送的所有发射信号进行合并生成合路发射信号,并输出所述合路发射信号给所述衰减装置;所述衰减装置,用于对所述合路发射信号进行衰减,并传送衰减后的所述合路发射信号给信号接收设备。
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