[发明专利]基于单分子荧光显微成像获取聚合物形变时的测量系统有效
| 申请号： | 201710015812.7 | 申请日： | 2017-01-10 |
| 公开（公告）号： | CN106645070B | 公开（公告）日： | 2019-04-23 |
| 发明（设计）人： | 冯杨;郑锴锴;杨京法;赵江 | 申请（专利权）人： | 中国科学院化学研究所;中国科学院大学 |
| 主分类号： | G01N21/64 | 分类号： | G01N21/64 |
| 代理公司： | 北京纪凯知识产权代理有限公司 11245 | 代理人： | 徐宁;刘美丽 |
| 地址： | 100190 *** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种基于单分子荧光显微成像获取聚合物形变时的测量系统，其特征在于，该测量系统包括：一用于使得一个以上的激发光光源产生圆偏振光以激发各个方向取向的荧光探针的激发光光源单元；一用于将所述激发光光源单元发出的圆偏振光会聚到发生形变的待测样品，同时将待测样品产生的荧光信号收集并导出的光学显微单元；一用于固定设置待测样品，并对待测样品进行拉伸测试，获得待测样品应力应变数据的高精度机械拉伸单元；一用于在待测样品形变过程中进行单分子显微成像的单分子荧光成像单元。本发明能够以单分子级别的实验测试手段更精细地研究玻璃态聚合物在形变过程中的链响应行为。 | ||
| 搜索关键词： | 基于 分子 荧光 显微 成像 获取 聚合物 形变 测量 系统 | ||
【主权项】：
1.一种基于单分子荧光显微成像获取聚合物形变时的测量系统，其特征在于，该测量系统包括：一用于使得一个以上的激发光光源产生圆偏振光以激发各个方向取向的荧光探针的激发光光源单元；一用于将所述激发光光源单元发出的圆偏振光会聚到发生形变的待测样品，同时将待测样品产生的荧光信号收集并导出的光学显微单元；一用于固定设置待测样品，并对待测样品进行拉伸测试，获得待测样品应力应变数据的高精度机械拉伸单元；一用于在待测样品形变过程中进行单分子显微成像的单分子荧光成像单元。
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