[发明专利]利用量热分析测算结晶性聚合物分子量及其分布的方法有效
申请号: | 201710013820.8 | 申请日: | 2017-01-09 |
公开(公告)号: | CN107044994B | 公开(公告)日: | 2019-07-19 |
发明(设计)人: | 陈双俊 | 申请(专利权)人: | 南京工业大学 |
主分类号: | G01N25/04 | 分类号: | G01N25/04;G01N25/14 |
代理公司: | 南京苏科专利代理有限责任公司 32102 | 代理人: | 郭百涛 |
地址: | 211816 江*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: |
本发明公开了一种利用量热分析测算结晶性聚合物分子量及其分布的方法,该方法可简单易行的测算结晶性聚合物分子量及其分布。该方法包括以下步骤:1)利用通用差示扫描量热仪对结晶性聚合物进行量热分析,得到结晶性聚合物的结晶动力学和熔融热力学数据;2)对降温曲线进行数学处理和数据分析,得到成核阶段末期明确对应的相对结晶度XtN;3)对升温曲线进行数学处理,将结晶性聚合物的熔融曲线变成数均分子量Mi的质量分数曲线,再得到数均分子量 |
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搜索关键词: | 利用 分析 测算 结晶 聚合物 分子量 及其 分布 方法 | ||
【主权项】:
1.一种利用量热分析测算结晶性聚合物分子量及其分布的方法,其特征在于包括以下步骤:1)利用通用差示扫描量热仪对结晶性聚合物进行量热分析,升降温曲线上出现完整的且对应明确晶型结构的结晶与熔融峰,得到结晶性聚合物的结晶动力学和熔融热力学数据;2)对降温曲线进行数学处理和数据分析,根据结晶动力学特征区分成核与生长阶段,得到成核阶段末期明确对应的相对结晶度XtN;3)对升温曲线进行数学处理,将结晶性聚合物的熔融曲线根据公式Ⅰ变成数均分子量Mi的质量分数曲线,再根据公式Ⅱ计算得到数均分子量![]()
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其中A是与聚合物晶型结构、密度、摩尔熔融热及表面能相关的常数,与聚合物的种类和晶体学结构相关,XC为聚合物的实际结晶度,Tm、
分别是聚合物的熔点和平衡熔点;4)将多分散聚合物按照摩尔数分成多等份,根据XtN平均值和起始值,得到不同分子量级分所对应的
根据公式Ⅲ、Ⅳ算出不同级分的数均分子量
和
再计算平均值得到重均分子量
根据公式Ⅴ重均分子量除以数均分子量得到分子量分布多分散系数PDI;![]()
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