[发明专利]一种通过预留I晶促进均聚iP-1-B由熔体直接形成I′晶的方法有效

专利信息
申请号: 201710002984.0 申请日: 2017-01-04
公开(公告)号: CN107253338B 公开(公告)日: 2019-05-07
发明(设计)人: 李景庆;王栋;蔡晓倩;蒋世春;尚英瑞 申请(专利权)人: 天津大学
主分类号: B29C71/00 分类号: B29C71/00;B29C71/02;B29C43/02;B29C43/58
代理公司: 天津创智天诚知识产权代理事务所(普通合伙) 12214 代理人: 王秀奎
地址: 300072*** 国省代码: 天津;12
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摘要: 发明公开一种通过预留I晶促进均聚iP‑1‑B由熔体直接形成I′晶的方法,将I晶iP‑1‑B加热保温后降温,多次循环此加热过程,通过广角X射线散射原位观察iP‑1‑B结晶行为,发现通过在熔体中预留I晶,可比完全不预留I晶时,在样品的30℃‑125℃循环加热过程中,生成的I′晶比例显著增加,此方法过程简单,易于操作。
搜索关键词: 一种 通过 预留 促进 ip 直接 形成 方法
【主权项】:
1.一种通过预留I晶促进均聚iP‑1‑B由熔体直接形成I′晶的方法,其特征在于,将I晶均聚iP‑1‑B升温至II晶熔融温度以上,且不到I晶熔融温度,保温以使II晶完全熔融且预留部分I晶,再降温室温,完成一个加热保温降温的过程,反复升降温操作即可在iP‑1‑B中生成晶型I′,加热保温降温的过程包括:自室温20—30摄氏度以20—30oC/min升温至124±1摄氏度并恒温保温2—10min,再10—15 oC/min降温室温20—30摄氏度,保温时间为2—10min。
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