[发明专利]确定X射线系统的X射线管的状况有效
| 申请号： | 201680069964.9 | 申请日： | 2016-11-18 |
| 公开（公告）号： | CN108293289B | 公开（公告）日： | 2022-09-13 |
| 发明（设计）人： | R·普罗克绍;R·K·O·贝林;C·里宾;L·D·米勒;A·艾特尔 | 申请（专利权）人： | 皇家飞利浦有限公司 |
| 主分类号： | H05G1/54 | 分类号： | H05G1/54 |
| 代理公司： | 永新专利商标代理有限公司 72002 | 代理人： | 刘瑜;王英 |
| 地址： | 荷兰艾*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 本发明涉及用于确定X射线系统(36)的X射线管(10)的状况的设备(34)和方法(70)。由于X射线管的老化和/或磨损，由X射线管提供的X射线辐射(30)的谱会随着X射线管的操作时间而改变。本发明因此建议评估利用X射线系统的X射线探测器布置(32)探测的谱不同的值。通过多个谱不同的参考值(44)表示X射线管的参考情况的参考数据集和通过探测的X射线辐射的多个谱不同的工作值(46)表示的X射线管的老化情况的工作数据集用来确定影响由X射线管的阳极(16)发射的源X射线辐射(26)的过滤材料的等效过滤函数。因此，过滤函数提供关于正在用于过滤的材料和/或其长度的信息，这可以为确定X射线管的情况并且因此状况提供基础。 | ||
| 搜索关键词： | 确定 射线 系统 状况 | ||
【主权项】：
1.一种用于确定X射线系统(36)的X射线管(10)的状况的设备(34)，包括：输入接口(38)；输出接口(40)；以及处理单元(42)；其中，所述输入接口被配置为接收参考数据集，所述参考数据集表示在X射线系统的预定控制方案下的X射线管的探测的X射线辐射(30)的多个谱不同的参考值(44)；其中，所述输入接口被配置为接收工作数据集，所述工作数据集表示在所述X射线系统的相同的预定控制方案下的所述X射线管的探测的X射线辐射的多个谱不同的工作值(46)，其中，由对所述X射线管的使用引起的X射线过滤被应用在所述X射线管的X射线辐射路径(48)处；其中，所述处理单元被配置为基于所述参考数据集和所述工作数据集确定指示所述X射线过滤的所述X射线管的所述X射线辐射的过滤函数；其中，所述处理单元被配置为基于所述过滤函数确定所述X射线管的状况；其中，所述输出接口被配置为提供所述X射线管的所述状况用于另外的目的；并且其中，所述处理单元被配置为基于所述过滤函数确定吸收谱；并且其中，所述处理单元被配置为基于所述吸收谱确定所述X射线管的所述状况。
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