[发明专利]用于测量金属产品的平整度的方法及相关装置有效
| 申请号： | 201680065722.2 | 申请日： | 2016-11-07 |
| 公开（公告）号： | CN108351206B | 公开（公告）日： | 2021-03-12 |
| 发明（设计）人： | D.特里尔;B.鲍拜;F.图彻特 | 申请（专利权）人： | 首要金属科技法国有限责任公司 |
| 主分类号： | G01B21/30 | 分类号： | G01B21/30;B21B38/02;G01B5/28 |
| 代理公司： | 中国专利代理(香港)有限公司 72001 | 代理人： | 王丽辉;邓雪萌 |
| 地址： | 法国萨*** | 国省代码： | 暂无信息 |
| 权利要求书： | 暂无信息 | 说明书： | 暂无信息 |
| 摘要： | 本发明描述了用于测量金属产品平整度的方法及相关装置。因此提出一种测量金属产品（1）的平整度的方法，该金属产品是在产品的偏转器类型的平整度测量组件（2）上在牵引作用下行进的带材类型（D），其理想地包括至少测量辊（RM），该测量辊（RM）引起产品在行进方向上偏转，平整度测量通过测量在产品的偏转区域（5）上的纵向张力进行，该产品具有至少塑性或弹塑性的变形特性，其特征在于，平整度测量包括以下步骤：借助于测量辊获得第一纵向张力测量值（T1），根据测量辊上的产品在偏转区域中的塑性或弹塑性变形条件确定在带材厚度上的应力模型，根据所确定的应力模型实施对产品的纵向变形校正因子（Z1）的计算，根据纵向变形校正因子（Z1）计算在至少一个评估点（M1，M2）处的第一纵向张力测量值（T1）的校正值（T1'，T2'），通过考虑校正值，计算在所述评估点（M1，M2）中的至少一个处的平整度测量修正值（PC）。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 测量 金属产品 平整 方法 相关 装置 | ||
【主权项】：
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于首要金属科技法国有限责任公司，未经首要金属科技法国有限责任公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201680065722.2/，转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇：通信系统和存储介质
- 下一篇：用于使用可配置带宽进行通信的方法和设备
