[发明专利]测量装置及材料试验机有效

专利信息
申请号: 201680065251.5 申请日: 2016-03-16
公开(公告)号: CN108351285B 公开(公告)日: 2021-09-24
发明(设计)人: 辻博志 申请(专利权)人: 株式会社岛津制作所
主分类号: G01N3/06 分类号: G01N3/06;G01D5/22
代理公司: 上海立群专利代理事务所(普通合伙) 31291 代理人: 杨楷;毛立群
地址: 日本国*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 在FPGA(60)的内部,由检波电路(61)、偏移减法器(68)和增益乘法器(69)构建成逻辑电路,所述检波电路(61)存储有从FPGA(60)向DAC(51)传送的波形数据,且从ADC(58)输入的信号中取出试验力值或拉伸值的信号成分。检波电路(61)提取与试验力或位移成比例的电阻成分。在检波电路(61)中,通过利用包含载体频率的奇数倍的谐波的成分的公式作为提取电阻成分的相关函数,能够以比载体频率高的采样频率取得计算结果。
搜索关键词: 测量 装置 材料 试验
【主权项】:
1.一种测量装置,测量被测量物产生的物理量的变化,其特征在于,具备:检测器,将所述被测量物产生的物理量的变化转换为电信号并输出;传感器放大器,向所述检测器施加驱动所述检测器的规定周期的正弦波,且接收从所述检测器输出的信号,所述传感器放大器具有在被从所述检测器输入到所述传感器放大器的接收信号中,提取由所述检测器测量的物理量成分的接收电路,所述接收电路,使用包含与所述规定周期的正弦波同步的成分和其奇数次谐波的成分的函数,作为从所述接收信号中提取由所述物理量转换的电阻成分的相关函数。
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