[发明专利]用于制造隔膜组件的方法有效

专利信息
申请号: 201680064056.0 申请日: 2016-10-25
公开(公告)号: CN108292102B 公开(公告)日: 2021-07-09
发明(设计)人: S·奥斯特霍夫;保罗·詹森;B·L·M-J·K·韦伯罗根 申请(专利权)人: ASML荷兰有限公司
主分类号: G03F7/20 分类号: G03F7/20;G03F1/62;G21K1/06;B82Y40/00
代理公司: 中科专利商标代理有限责任公司 11021 代理人: 张启程
地址: 荷兰维*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 一种用于制造用于EUV光刻的隔膜组件(80)的方法,所述方法包括:设置叠层(40),所述叠层包括介于支撑衬底(41)与附接衬底(51)之间的隔膜层(45),其中所述支撑衬底包括内部区和第一边界区;加工所述叠层,包括选择性地移除所述支撑衬底的所述内部区,以形成隔膜组件,所述隔膜组件包括:隔膜(45),所述隔膜由至少所述隔膜层形成;和支撑件(81),所述支承件保持所述隔膜,所述支撑件至少部分地由所述支撑衬底的所述第一边界区形成。所述附接衬底可被结合至所述叠层的其余部分。
搜索关键词: 用于 制造 隔膜 组件 方法
【主权项】:
1.一种用于制造用于EUV光刻的隔膜组件的方法,所述方法包括:提供叠层,所述叠层包括介于支撑衬底与附接衬底之间的隔膜层,其中所述支撑衬底包括内部区和第一边界区;加工所述叠层,包括选择性地移除所述支撑衬底的所述内部区,以形成隔膜组件,所述隔膜组件包括:隔膜,所述隔膜由至少所述隔膜层形成;和支撑件,所述支撑件保持所述隔膜,所述支撑件至少部分地由所述支撑衬底的所述第一边界区形成。
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