[发明专利]包含单元特定对齐和单元特定布线的多裸芯封装有效
申请号: | 201680059697.7 | 申请日: | 2016-10-12 |
公开(公告)号: | CN108292627B | 公开(公告)日: | 2022-06-14 |
发明(设计)人: | C.毕晓普 | 申请(专利权)人: | 美国德卡科技公司 |
主分类号: | H01L21/768 | 分类号: | H01L21/768 |
代理公司: | 北京市柳沈律师事务所 11105 | 代理人: | 邱军;王蕊瑞 |
地址: | 美国亚*** | 国省代码: | 暂无信息 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 一种包含单元特定对齐和单元特定布线的多裸芯封装以及制作其的方法,所述方法可包括通过在单一步骤中封装第一半导体裸芯和第二半导体裸芯连同导电互连件而形成嵌入式裸芯面板。可测量在该嵌入式裸芯面板内的该第一半导体裸芯和该第二半导体裸芯的实际位置。可通过堆积互连结构互连该第一半导体裸芯和该第二半导体裸芯,该堆积互连结构互连包含与该第一半导体裸芯对齐的第一单元特定对齐部分、与该第二半导体裸芯对齐的第二单元特定对齐部分、连接该第一单元特定对齐部分和该第二单元特定对齐部分的单元特定布线、及与嵌入式裸芯面板的轮廓对齐并耦接至该单元特定布线的固定部分。 | ||
搜索关键词: | 包含 单元 特定 对齐 布线 多裸芯 封装 | ||
【主权项】:
1.一种制作半导体装置的方法,包含:通过在单一步骤中用封装剂封装第一半导体裸芯和第二半导体裸芯的至少四个侧表面和作用表面以及导电互连件的侧表面而形成嵌入式裸芯面板,该导电互连件耦接至该第一半导体裸芯和该第二半导体裸芯;测量在该嵌入式裸芯面板内的该第一半导体裸芯的实际位置和该第二半导体裸芯的实际位置,以获得该第一半导体裸芯的旋转测量量、该第一半导体裸芯的XY位移、该第二半导体裸芯的旋转测量量和该第二半导体裸芯的XY位移;以及通过形成堆积互连结构于该嵌入式裸芯面板上方来互连该第一半导体裸芯和该第二半导体裸芯的导电互连件,该堆积互连结构通过以下而形成:形成与该第一半导体裸芯对齐的第一单元特定对齐部分,形成与该第二半导体裸芯对齐的第二单元特定对齐部分,形成连接该第一单元特定对齐部分与该第二单元特定对齐部分的单元特定布线,以及形成与嵌入式裸芯面板的轮廓对齐并耦接至该单元特定布线的固定部分。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于美国德卡科技公司,未经美国德卡科技公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201680059697.7/,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:在双侧互连器件上制作和使用穿硅过孔
- 下一篇:全模制周边堆叠封装设备
- 同类专利
- 专利分类
H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造