[发明专利]具有时间交织(TI)或两步逐次逼近寄存器(SAR)量化器的Δ-Σ模数转换器(ADC)在审

专利信息
申请号: 201680056056.6 申请日: 2016-08-24
公开(公告)号: CN108141223A 公开(公告)日: 2018-06-08
发明(设计)人: O·拉杰;韩昌石;戴亮;S·A·米雷杰;G·基兰 申请(专利权)人: 高通股份有限公司
主分类号: H03M3/00 分类号: H03M3/00;H03M1/46;H03M1/10
代理公司: 北京市金杜律师事务所 11256 代理人: 王茂华;崔卿虎
地址: 美国加利*** 国省代码: 美国;US
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摘要: 本公开的某些方面提供了使用时间交织(TI)逐次逼近寄存器(SAR)模数转换器(ADC)的Δ‑Σ调制器(DSM)。例如,两个SAR ADC可以被配置为交替地采样和处理输入信号,并且使用额外回路延迟(ELD)针对DSM提供反馈信号。在其他方面,DSM可以使用两步SAR量化器来实现。例如,第一SAR ADC可以采样输入信号以生成DSM的输出的最高有效位(MSB)部分,而第二SAR ADC随后可以采样来自第一SAR ADC转换的残余并且生成DSM的输出的最低有效位(LSB)部分。利用这些技术,可以在高精度Δ‑ΣADC中获得更高的带宽,而无需使用增加的采样速率。
搜索关键词: 采样 逐次逼近寄存器 模数转换器 时间交织 量化器 有效位 采样输入信号 处理输入信号 输出 反馈信号 回路延迟 调制器 带宽 配置
【主权项】:
一种Δ‑Σ调制器,包括:具有节点的回路;第一逐次逼近寄存器(SAR)模数转换器(ADC),被选择性地包含到所述回路中;以及第二SAR ADC,被选择性地包含到所述回路中,所述第一SAR ADC和所述第二SAR ADC被配置为交替地对所述节点进行采样。
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