[发明专利]激光加工装置及激光加工方法有效
申请号: | 201680048390.7 | 申请日: | 2016-08-08 |
公开(公告)号: | CN107995996B | 公开(公告)日: | 2021-10-15 |
发明(设计)人: | 奥间惇治;杉本阳 | 申请(专利权)人: | 浜松光子学株式会社 |
主分类号: | H01L21/301 | 分类号: | H01L21/301;B23K26/00;B23K26/53 |
代理公司: | 北京尚诚知识产权代理有限公司 11322 | 代理人: | 杨琦 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | 激光加工装置具备:支撑台,其支撑包含由结晶材料所构成的基板的加工对象物;激光光源,其射岀激光;聚光光学系统,其将激光聚光于被支撑台支撑的加工对象物;摄像部,其对被支撑台支撑的加工对象物的表面进行摄像;候补线设定部,其对加工对象物设定在互相不同的方向上延伸的多个候补线;动作控制部,其控制支撑台、激光光源及聚光光学系统的至少一个的动作,使得沿着多个候补线的各个,在基板的内部形成改质区域,并且龟裂从改质区域到达至加工对象物的表面;及基准线设定部,其对加工对象物设定根据通过摄像部所摄像的龟裂的图像而决定为表示基板的结晶方位的线的基准线。 | ||
搜索关键词: | 激光 加工 装置 方法 | ||
【主权项】:
一种激光加工装置,其特征在于,具备:支撑台,其支撑包含由结晶材料所构成的基板的加工对象物;激光光源,其射岀激光;聚光光学系统,其将从所述激光光源所射岀的所述激光聚光于被所述支撑台支撑的所述加工对象物;摄像部,其对被所述支撑台支撑的所述加工对象物的表面进行摄像;候补线设定部,其对所述加工对象物设定在互相不同的方向上延伸的多个候补线;动作控制部,其控制所述支撑台、所述激光光源及所述聚光光学系统的至少一个的动作,使得沿着多个所述候补线的各个,在所述基板的内部形成改质区域,并且龟裂从所述改质区域到达至所述加工对象物的所述表面;及基准线设定部,其对所述加工对象物设定根据通过所述摄像部所摄像的所述龟裂的图像而决定为表示所述基板的结晶方位的线的基准线。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
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H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造