[发明专利]通过介电性质分析进行接触质量评估有效
| 申请号： | 201680026530.0 | 申请日： | 2016-05-11 |
| 公开（公告）号： | CN107635463B | 公开（公告）日： | 2021-12-28 |
| 发明（设计）人： | Y·施瓦茨;埃里·迪克特尔曼;阿迪·拉比诺维奇 | 申请（专利权）人： | 纳维斯国际有限公司 |
| 主分类号： | A61B5/0538 | 分类号： | A61B5/0538;A61B5/06;A61B18/14;A61B34/20;A61B90/00 |
| 代理公司： | 北京安信方达知识产权代理有限公司 11262 | 代理人： | 张瑞;杨明钊 |
| 地址： | 英属维尔京*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 公开了用于基于介电性质和/或阻抗感测评估组织接触的设备和方法。在一些实施例中，经由包括接近组织(例如，心肌组织)的电极在内的电极来递送一个或多个探测频率。在一些实施例中，对介电参数值(任选地)连同其他已知和/或估计组织特性进行测量以便确定与所述组织的接触质量。在一些实施例中，介电接触质量用于例如引导损伤形成(例如，对心脏组织的RF消融以便变更电气传输特性)。 | ||
| 搜索关键词： | 通过 性质 分析 进行 接触 质量 评估 | ||
【主权项】：
一种表征体内探针与靶组织的接触质量的方法，所述方法包括：使用电路来测量体内型电极的电极的环境的介电性质，所述电路由体内放置的所述电极限定，从而使得所述靶组织包括在所述电路中；以及对所述探针与所述靶组织之间的接触进行表征，其中，对所述接触的所述表征包括将所述被测介电性质映射到处于表征所述接触质量的值范围内的映射值上。
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