[发明专利]存储器件有效
申请号: | 201680016607.6 | 申请日: | 2016-02-02 |
公开(公告)号: | CN107735875B | 公开(公告)日: | 2020-07-17 |
发明(设计)人: | 朴在勤;崔珍永 | 申请(专利权)人: | 汉阳大学校产学协力团 |
主分类号: | H01L43/02 | 分类号: | H01L43/02;H01L43/08;H01L43/10 |
代理公司: | 北京同立钧成知识产权代理有限公司 11205 | 代理人: | 延美花;臧建明 |
地址: | 韩国*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | 本发明公开存储器件,在上述存储器件中,在基板层叠形成下部电极、缓冲层、种子层、磁隧道结、覆盖层、合成交换半磁性层及上部电极,上述合成交换半磁性层包括单层的第一磁性层、非磁性层及多层结构的第二磁性层。 | ||
搜索关键词: | 存储 器件 | ||
【主权项】:
一种存储器件,其特征在于,在基板上以层叠的方式形成有下部电极、缓冲层、种子层、磁隧道结、覆盖层、合成交换半磁性层及上部电极,上述合成交换半磁性层包括单层的第一磁性层、非磁性层及多层结构的第二磁性层。
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