[发明专利]经由曲线减法检测基于质谱的相似性

摘要

本发明涉及经由曲线减法检测基于质谱的相似性。系统及方法分组已知化合物的两种或更多种产物离子的XIC峰值。在多个保留时间获得整个质量范围的产物离子光谱集合。选择所述已知化合物的M种产物离子。针对所述M种产物离子中的每一者计算XIC。将所述M个XIC中的每一XIC从其它M个XIC中的每一者减去。识别一或多个保留时间的一或多个区域，其中一或多个减法曲线具有在零的阈值内的值。针对所述一或多个区域中的每一区域，获得用以计算识别所述区域的所述一或多个减法曲线的两个或更多个XIC，并将所述区域中的所述两个或更多个XIC的每一峰值添加到峰值群组。

主权项

一种用于分组已知化合物的两种或更多种产物离子的提取离子色谱XIC峰值的系统，其包括：分离装置，其将已知化合物从样本混合物分离；质谱仪，其在多个保留时间的每一保留时间使用一或多个循序质量窗口宽度对所述分离样本混合物执行一或多次质谱/质谱MS/MS扫描，以便横跨整个质量范围，从而产生所述多个保留时间的所述整个质量范围的产物离子光谱集合；及处理器，其接收所述多个保留时间的所述整个质量范围的所述产物离子光谱集合，选择所述已知化合物的M种产物离子，计算来自所述产物离子光谱集合的所述M种产物离子中的每一者的XIC，从而产生M个XIC，将所述M个XIC中的每一XIC从其它M个XIC中的每一者减去，从而产生个减法曲线，其中每一减法曲线通过以下步骤根据第一XIC及第二XIC计算：在每一保留时间，使所述第一XIC在所述每一保留时间的强度及所述第一XIC在两个或更多个相邻保留时间的两个或更多个强度归一化，使所述第二XIC在所述每一保留时间的强度及所述第二XIC在所述相邻保留时间的两个或更多个强度归一化，将所述第二XIC的所述归一化强度从所述第一XIC的所述对应归一化强度减去，以及计算差值强度的统计测量，识别一或多个保留时间的一或多个区域，其中所述个减法曲线的一或多个减法曲线具有在零的阈值内的值，针对所述一或多个区域中的每一区域，获得用以计算识别所述区域的所述一或多个减法曲线的两个或更多个XIC，并将所述区域中的所述两个或更多个XIC的每一峰值添加到峰值群组。