[实用新型]晶圆测厚装置有效

专利信息
申请号: 201621415345.4 申请日: 2016-12-21
公开(公告)号: CN206250159U 公开(公告)日: 2017-06-13
发明(设计)人: 吴俊;熊强 申请(专利权)人: 珠海市中芯集成电路有限公司
主分类号: H01L21/66 分类号: H01L21/66
代理公司: 珠海智专专利商标代理有限公司44262 代理人: 黄国豪
地址: 519000 广东省珠海市南*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 实用新型提供一种测厚装置,包括基座、调节机构和连杆,基座为大理石平台并用于放置晶圆,调节机构设有丝杆,丝杆竖直安装在基座上,连杆的第一端与丝杆连接,测厚装置还包括压力表,压力表位于连杆的第二端,压力表的下方设置有探针,探针用于与晶圆抵接,连杆可在丝杆上竖直移动并绕丝杆水平旋转。大理石平台结构精密,均匀稳定性好,强度大、硬度高,提高晶圆的厚度测量精度。连杆可在丝杆上竖直移动并绕丝杆水平旋转,可测量不同厚度的晶圆以及不同位置的晶圆。探针对晶圆的厚度进行测量,根据压力表预设的压力值进行判断晶圆的合格品和不良品,结构简单,根据晶圆不同参数能快速调节,提高生产效率。
搜索关键词: 晶圆测厚 装置
【主权项】:
测厚装置,包括基座、调节机构和连杆,其特征在于:所述基座为大理石平台并用于放置晶圆;所述调节机构设有丝杆,所述丝杆竖直安装在所述基座上,所述连杆的第一端与所述丝杆连接;所述测厚装置还包括压力表,所述压力表位于所述连杆的第二端;所述压力表的下方设置有探针,所述探针用于与所述晶圆抵接;所述连杆可在所述丝杆上竖直移动并绕所述丝杆水平旋转。
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