[实用新型]一种基于干涉光的厚度对比装置

摘要

本实用新型涉及工程测量、质量检测领域，尤其是一种基于干涉光的厚度对比装置。它包括支架、测量缝、转动轴承、固定架、透光单缝、双缝、遮光筒、接光屏、摄像头、滤光片、光源、测量物体，所述的测量缝包括固定片、测量片；所述的透光单缝包括固定缝、同步旋转缝；所述的透光单缝、双缝、遮光筒、接光屏、摄像头、滤光片、光源在一条直线上；所述的固定片、固定缝、固定架、透光单缝、双缝、遮光筒、接光屏、摄像头、滤光片、光源固定在支架上；所述的摄像头位于接光屏一端。采用传统的直尺测量的方法很难达到某些厚度监测的要求，本装置能够区别不同物体的厚度微观差异。

主权项

一种基于干涉光的厚度对比装置，由支架(1)、测量缝(2)、转动轴承(3)、固定架(4)、透光单缝(5)、双缝(6)、遮光筒(7)、接光屏(8)、摄像头(9)、滤光片(10)、光源(11)、测量物体(12)组成，所述的测量缝(2)包括固定片(2‑1)、测量片(2‑2)；所述的透光单缝(5)包括固定缝(5‑1)、同步旋转缝(5‑2)；所述的透光单缝(5)、双缝(6)、遮光筒(7)、接光屏(8)、摄像头(9)、滤光片(10)、光源(11)在一条直线上；所述的固定片(2‑1)、固定缝(5‑1)、固定架(4)、透光单缝(5)、双缝(6)、遮光筒(7)、接光屏(8)、摄像头(9)、滤光片(10)、光源(11)固定在支架(1)上；所述的摄像头(9)位于接光屏(8)一端，可以直接对接光屏（8）的色谱进行拍照。