[实用新型]一种基于干涉光的厚度对比装置有效

专利信息
申请号: 201621102292.0 申请日: 2016-10-07
公开(公告)号: CN206131997U 公开(公告)日: 2017-04-26
发明(设计)人: 刘敬寿;丁文龙;杨海盟 申请(专利权)人: 中国地质大学(北京)
主分类号: G01B11/06 分类号: G01B11/06
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 100083*** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 一种 基于 干涉 厚度 对比 装置
【权利要求书】:

1.一种基于干涉光的厚度对比装置,由支架(1)、测量缝(2)、转动轴承(3)、固定架(4)、透光单缝(5)、双缝(6)、遮光筒(7)、接光屏(8)、摄像头(9)、滤光片(10)、光源(11)、测量物体(12)组成,所述的测量缝(2)包括固定片(2-1)、测量片(2-2);所述的透光单缝(5)包括固定缝(5-1)、同步旋转缝(5-2);所述的透光单缝(5)、双缝(6)、遮光筒(7)、接光屏(8)、摄像头(9)、滤光片(10)、光源(11)在一条直线上;所述的固定片(2-1)、固定缝(5-1)、固定架(4)、透光单缝(5)、双缝(6)、遮光筒(7)、接光屏(8)、摄像头(9)、滤光片(10)、光源(11)固定在支架(1)上;所述的摄像头(9)位于接光屏(8)一端,可以直接对接光屏(8)的色谱进行拍照。

2.根据权利要求1所述的一种基于干涉光的厚度对比装置,其特征在于:所述的测量片(2-2)、同步旋转缝(5-2)与转动轴承(3)连接,测量片(2-2)、同步旋转缝(5-2)可以绕转动轴承(3)同步旋转。

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