[实用新型]太阳电池控温测试通用装夹机构有效
申请号: | 201620851753.8 | 申请日: | 2016-08-08 |
公开(公告)号: | CN205984903U | 公开(公告)日: | 2017-02-22 |
发明(设计)人: | 李康;刁海南 | 申请(专利权)人: | 上海一航凯迈光机电设备有限公司 |
主分类号: | H01L21/66 | 分类号: | H01L21/66 |
代理公司: | 上海申新律师事务所31272 | 代理人: | 郭春远 |
地址: | 201700 上海市青浦*** | 国省代码: | 上海;31 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 太阳电池控温测试通用装夹机构,温度控制测试台(3)顶面固定测试基台(4),在测试基台(4)顶面固定底板(6),在底板(6)内侧中部开槽滑动嵌入太阳电池座(5),在底板(6)上方通过竖立固定的引导杆(7)安装上盖板(8),在上盖板(8)中部镂空开槽并在口沿上树立安装探针(9)。探针对不同电池触点间距的接触配合准确,匹配4通道、8通道和14通道等多种规格太阳电池测试要求,可配合工控机及电气控制系统对高效空间太阳电池和多通道太阳电池实现半自动化测试解决了一套夹具可以加装不同规格电池的问题,适用于包括单片、叠层和模块类型太阳电池,尤其适于检测各型高效空间太阳电池和多通道太阳电池。 | ||
搜索关键词: | 太阳电池 测试 通用 机构 | ||
【主权项】:
太阳电池控温测试通用装夹机构,其特征在于,温度控制测试台(3)顶面固定测试基台(4),在测试基台(4)顶面固定底板(6),在底板(6)内侧中部开槽滑动嵌入太阳电池座(5),在底板(6)上方通过竖立固定的引导杆(7)安装上盖板(8),在上盖板(8)中部镂空开槽并在口沿上树立安装探针(9)。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于上海一航凯迈光机电设备有限公司,未经上海一航凯迈光机电设备有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201620851753.8/,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:具有弧形台阶的键合治具
- 下一篇:一种太阳能电池片电致发光检测仪
- 同类专利
- 专利分类
H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造