[实用新型]一种微位移测量系统有效

专利信息
申请号: 201620850397.8 申请日: 2016-08-05
公开(公告)号: CN205940463U 公开(公告)日: 2017-02-08
发明(设计)人: 张秀再;朱熙铖;赵益波;乔治 申请(专利权)人: 南京信息工程大学
主分类号: G01B11/02 分类号: G01B11/02
代理公司: 南京钟山专利代理有限公司32252 代理人: 戴朝荣
地址: 210044 *** 国省代码: 江苏;32
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摘要: 实用新型提供一种微位移测量系统,其特征在于,所述系统包括型号为STM32F407VET6的微控制器以及与所述微控制器相连的电平转换模块和整形模块,所述整形模块还与光栅尺接口电路相连,其中,所述电平转换模块通过USB接口与PC机相连,所述整形模块与所述光栅尺接口电路之间通过3路正弦波信号相连。本实用新型提供的一种微位移测量系统,能够精确地测量细微的位移。
搜索关键词: 一种 位移 测量 系统
【主权项】:
一种微位移测量系统,其特征在于,包括型号为STM32F407VET6的微控制器以及与所述微控制器相连的电平转换模块和整形模块,所述整形模块还与光栅尺接口电路相连,其中:所述电平转换模块通过USB接口与PC机相连,包括型号为CH340G的转换芯片,所述转换芯片的引脚2与所述微控制器的引脚69相连,所述转换芯片的引脚3与所述微控制器的引脚68相连,所述转换芯片的引脚5和引脚6分别与USB接口的差分数据引脚相连;所述电平转换模块还包括与所述转换芯片相连的晶振电路,所述晶振电路包括12MHz的晶振,所述晶振的两端分别与所述转换芯片的引脚7和引脚8对应相连,所述晶振的两端与地之间还分别连接有第六电容和第七电容;所述整形模块与所述光栅尺接口电路之间通过3路正弦波信号相连,所述整形模块中包括与所述3路正弦波信号分别对应的3组结构相同的滞回比较器整形电路,其中,各个滞回比较器整形电路中均包括型号为TLV3501的比较器芯片,所述比较器芯片的引脚2与对应的正弦波信号相连,所述比较器芯片的引脚6与地之间串联两个电阻,所述比较器芯片的引脚3与所述两个电阻之间的连接线相连,3组滞回比较器整形电路中的3个比较器芯片的引脚6分别与所述微控制器的引脚93、引脚92、引脚3对应相连。
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