[实用新型]基于迈克尔逊干涉测量的激光光斑宽度测量装置有效

专利信息
申请号: 201620479779.4 申请日: 2016-05-24
公开(公告)号: CN205785074U 公开(公告)日: 2016-12-07
发明(设计)人: 洪良;刘海强 申请(专利权)人: 西安工程大学
主分类号: G01B11/02 分类号: G01B11/02
代理公司: 西安弘理专利事务所61214 代理人: 罗笛
地址: 710048 *** 国省代码: 陕西;61
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摘要: 实用新型基于迈克尔逊干涉测量的激光光斑宽度测量装置,由按照光路设置的激光器、镜面‑透射反射系统、导轨滑台系统及探测系统构成;镜面‑透射反射测量系统由半透半反镜a,半透半反镜b、平面镜片、全反射镜a、全反射镜b、扩束系统a及扩束系统b构成;导轨滑台系统由导轨底座、滑台、丝杠、步进电机、手动旋钮及刀口构成;探测系统由功率探测器及PIN光电二极管探测器构成。本实用新型基于迈克尔逊干涉测量的激光光斑宽度测量装置,能实现对激光光斑宽度的高精度、快速及自动测量。
搜索关键词: 基于 迈克 干涉 测量 激光 光斑 宽度 装置
【主权项】:
基于迈克尔逊干涉测量的激光光斑宽度测量装置,其特征在于,由按照光路设置的激光器(1)、镜面‑透射反射系统、导轨滑台系统及探测系统构成;所述镜面‑透射反射测量系统由半透半反镜a(2‑1),半透半反镜b(2‑2)、平面镜片(2‑3)、全反射镜a(2‑4)、全反射镜b(2‑5)、扩束系统a(2‑6)及扩束系统b(2‑7)构成;所述导轨滑台系统由导轨底座(3‑1)、滑台(3‑2)、丝杠(3‑3)、步进电机(3‑4)、手动旋钮(3‑5)及刀口(3‑6)构成;所述探测系统由功率探测器(4‑1)及PIN光电二极管探测器(4‑2)构成。
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