[实用新型]一种用于X射线衍射测定的样品架有效
| 申请号： | 201620427100.7 | 申请日： | 2016-05-11 |
| 公开（公告）号： | CN205749350U | 公开（公告）日： | 2016-11-30 |
| 发明（设计）人： | 王磊;李瑞峰;代跃利 | 申请（专利权）人： | 中国石油天然气股份有限公司 |
| 主分类号： | G01N23/20 | 分类号： | G01N23/20;G01N1/28 |
| 代理公司： | 北京律诚同业知识产权代理有限公司 11006 | 代理人： | 梁挥;李岩 |
| 地址： | 100007 北京市*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本实用新型提供了一种用于X射线衍射测定的样品架，所述样品架放置于恒湿器内，所述样品架为一长方体，其上部开设有一盛放样品的样品槽，所述样品槽为圆形凹槽，所述圆形凹槽直径为2cm～3cm，所述圆形凹槽的槽深为0.1mm～0.5mm。所述样品槽填满分子筛样品，经恒湿吸水，所述样品架可直接用于X射线衍射测定。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 用于 射线 衍射 测定 样品 | ||
【主权项】：
一种用于X射线衍射测定的样品架，所述样品架放置于恒湿器内，其特征在于，所述样品架为一长方体，其上部开设有一盛放样品的样品槽，所述样品槽为圆形凹槽，所述圆形凹槽直径为2cm～3cm，所述圆形凹槽的槽深为0.1mm～0.5mm。
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