[实用新型]电子元件测试装置有效
| 申请号： | 201620219184.5 | 申请日： | 2016-03-22 |
| 公开（公告）号： | CN205484609U | 公开（公告）日： | 2016-08-17 |
| 发明（设计）人： | 肖旭辉 | 申请（专利权）人： | 湖南省福晶电子有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/00 | 分类号： | G01R31/00 |
| 代理公司： | 湖南省娄底市兴娄专利事务所 43106 | 代理人： | 朱成实 |
| 地址： | 417625 湖南省娄*** | 国省代码： | 湖南;43 |
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| 摘要： | 本实用新型提供电子元件测试装置，它包括有转盘，转盘底部设有带动转盘旋转的动力机构，转盘盘缘处均布有若干检测座，转盘顶部设有检测架，检测架上设有固定座，固定座上设有上下滑动的滑板，滑板顶部与检测架上的升降杆相连接，滑板底部安装有检测头，检测头位于检测座上方；转盘一侧设有与检测座相配合的送料机构，转盘底部设有与检测头相配合的下顶紧机构。采用本方案后的结构简单、操作方便、无需使用气缸带动，使机械手的稳定性得以大大提高，减少了冲击性，使测试数据更精准。 | ||
| 搜索关键词： | 电子元件 测试 装置 | ||
【主权项】：
电子元件测试装置，其特征在于：它包括有转盘（1），转盘（1）底部设有带动转盘（1）旋转的动力机构（2），转盘（1）盘缘处均布有若干检测座（3），转盘（1）顶部设有检测架（4），检测架（4）上设有固定座（5），固定座（5）上设有上下滑动的滑板（6），滑板（6）顶部与检测架（4）上的升降杆（7）相连接，滑板（6）底部安装有检测头（8），检测头（8）位于检测座（3）上方；转盘（1）一侧设有与检测座（3）相配合的送料机构（9），转盘（1）底部设有与检测头（8）相配合的下顶紧机构（10）。
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