[实用新型]芯片自动检测装置有效
申请号: | 201620014883.6 | 申请日: | 2016-01-08 |
公开(公告)号: | CN205809237U | 公开(公告)日: | 2016-12-14 |
发明(设计)人: | 任宁 | 申请(专利权)人: | 上海恒浥智能科技股份有限公司 |
主分类号: | G01R31/28 | 分类号: | G01R31/28 |
代理公司: | 上海翼胜专利商标事务所(普通合伙)31218 | 代理人: | 翟羽 |
地址: | 201203 上海市浦东新区自由贸*** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | 本实用新型属于集成电路芯片生产加工检测技术领域,公开了一种芯片自动检测装置,包括工作台、设置在所述工作台中间的机器人、控制模块,所述工作台的四周分别设置料仓和多个芯片检测盒,在所述料仓侧边通过相机支架设置视觉相机,所述料仓包括上料仓和下料仓,在所述料仓靠近所述机器人的一侧为上料工位,在所述上料工位的侧边设置废料盒。本实用新型实现了对芯片的检测的自动化,检测效率高,减少了人工干预带来的不利因素。 | ||
搜索关键词: | 芯片 自动检测 装置 | ||
【主权项】:
一种芯片自动检测装置,其特征在于:包括工作台、设置在所述工作台中间的机器人、控制模块,所述工作台的四周分别设置料仓和多个芯片检测盒,在所述料仓侧边通过相机支架设置视觉相机,所述料仓包括上料仓和下料仓,在所述料仓靠近所述机器人的一侧为上料工位,在所述上料工位的侧边设置废料盒。
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