[发明专利]一种屏蔽膜测试组件及测试模组在审
| 申请号： | 201611258773.5 | 申请日： | 2016-12-30 |
| 公开（公告）号： | CN106872819A | 公开（公告）日： | 2017-06-20 |
| 发明（设计）人： | 倪漫利;张宇平 | 申请（专利权）人： | 深圳天珑无线科技有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/00 | 分类号： | G01R31/00;G01R27/02;G01R27/20 |
| 代理公司： | 深圳市威世博知识产权代理事务所(普通合伙)44280 | 代理人： | 钟子敏 |
| 地址： | 518053 广东省深圳*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种屏蔽膜测试组件和模组，该组件包括比照测试模组，包括待测屏蔽膜和至少两个接地导体，所述至少两个接地导体分别与所述待测屏蔽膜两端接触；电阻测试电路，包括至少两个测试端，分别耦接所述至少两个接地导体，以测量得到目标电阻。通过实施本发明，能够简便地测量屏蔽膜的屏蔽效果。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 屏蔽 测试 组件 模组 | ||
【主权项】：
一种屏蔽膜测试组件，其特征在于，包括：比照测试模组，包括待测屏蔽膜和至少两个接地导体，所述至少两个接地导体分别与所述待测屏蔽膜两端接触；电阻测试电路，包括至少两个测试端，分别耦接所述至少两个接地导体，以测量得到目标电阻。
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