[发明专利]多视角成像数据处理方法和设备在审
| 申请号： | 201611257546.0 | 申请日： | 2016-12-29 |
| 公开（公告）号： | CN108267465A | 公开（公告）日： | 2018-07-10 |
| 发明（设计）人： | 吴珊珊;王强;刘晶晶;廖育华;张金宇 | 申请（专利权）人： | 同方威视技术股份有限公司 |
| 主分类号： | G01N23/04 | 分类号： | G01N23/04 |
| 代理公司： | 中科专利商标代理有限责任公司 11021 | 代理人： | 倪斌 |
| 地址： | 100084 北京*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 公开了一种用于多视角成像数据处理的方法和设备。在一实施例中，通过X射线从两个或更多个视角对被检物体进行照射得到所述多视角成像数据。该方法包括：从多视角成像数据中提取代表被检物体中同一区域的数据；根据所提取的数据，对该区域进行截面重建；基于梯度下降，对重建的截面进行处理，得到处理后的重建截面；根据处理后的重建截面，确定该区域的等效原子序数和密度；以及基于所确定的等效原子序数和特征密度，确定该区域是否包含违禁品。 | ||
| 搜索关键词： | 多视角 等效原子序数 方法和设备 成像数据 数据处理 成像 重建 违禁品 截面重建 同一区域 照射 视角 | ||
【主权项】：
1.一种对多视角成像数据进行处理的方法，其中，通过X射线从两个或更多个视角对被检物体进行照射得到所述多视角成像数据，该方法包括：从多视角成像数据中提取代表被检物体中同一区域的数据；根据所提取的数据，对该区域进行截面重建；基于梯度下降，对重建的截面进行处理，得到处理后的重建截面；根据处理后的重建截面，确定该区域的等效原子序数和密度；以及基于所确定的等效原子序数和特征密度，确定该区域是否包含违禁品。
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