[发明专利]超级电容可靠性测试系统及温度不均衡测试方法有效
| 申请号： | 201611256697.4 | 申请日： | 2016-12-30 |
| 公开（公告）号： | CN106646060B | 公开（公告）日： | 2019-07-05 |
| 发明（设计）人： | 苏晓宇 | 申请（专利权）人： | 北京金风科创风电设备有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/00 | 分类号： | G01R31/00;G01R31/02 |
| 代理公司： | 北京东方亿思知识产权代理有限责任公司 11258 | 代理人： | 彭琼 |
| 地址： | 100176 北京市大*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明提供一种超级电容可靠性测试系统及温度不均衡测试方法，其中的超级电容可靠性测试系统，包括：两个或两个以密闭试验箱、测试电源模块、信号采集模块和控制模块，密闭试验箱之间串接，每个所述密闭试验箱内设有温度控制模块；测试电源模块用于为所述两个或两个以上密闭试验箱的两端提供电能；信号采集模块与每个所述密闭试验箱电连接；控制模块接收所述信号采集模块的采集信号和/或发送控制指令给所述信号采集模块。本发明实施例提供的超级电容可靠性测试系统，能够同时对两个及以上串联的待测超级电容器件进行测试，并可以针对每个待测超级电容器件控制不同的温度，模拟真实工作环境，从而得到更准确的测试结果。 | ||
| 搜索关键词： | 密闭 可靠性测试系统 信号采集模块 超级电容 试验箱 超级电容器件 测试电源 控制模块 测试 发送控制指令 温度控制模块 采集信号 温度不均 不均衡 电连接 串接 串联 试验 | ||
【主权项】：
1.超级电容可靠性测试系统，其特征在于，包括两个或两个以上密闭试验箱(21、22)，所述两个或两个以上密闭试验箱(21、22)之间串接，使放置在密闭试验箱(21、22)内部的待测超级电容器件(8)之间构造为串联连接在测试电路中；每个所述密闭试验箱(21、22)内设有温度控制模块，用于对所述密闭试验箱(21、22)内部进行加热和/或制冷；测试电源模块(1)，用于为所述两个或两个以上密闭试验箱(21、22)的两端提供电能；信号采集模块(4)，与每个所述密闭试验箱(21、22)电连接，用于采集所述密闭试验箱(21、22)内部的所述待测超级电容器件(8)的电压；控制模块(5)，接收所述信号采集模块(4)的采集信号和/或发送控制指令给所述信号采集模块(4)；所述待测超级电容器件(8)包括：第一组待测超级电容器和第二组待测超级电容器件；所述第一组待测超级电容器放置在所述密闭试验箱(21、22)中，并且通过所述温度控制模块控制所述密闭试验箱(21、22)保持在第一温度条件下；所述第二组待测超级电容器件被分成至少两部分，所述至少两部分一一对应地放置在串接的两个或两个以上所述密闭试验箱(21、22)中，并且通过所述温度控制模块控制其中的一个所述密闭试验箱(21、22)保持在第一温度条件下，控制其他的所述密闭试验箱(21、22)的温度与第一温度条件不同。
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