[发明专利]一种FLASH芯片的测试系统

摘要

本发明公开了一种FLASH芯片的测试系统，其特征在于包括主控服务器、老化柜和测试控制板，将测试板插入测试插口；主控服务器将测试指令下发到测试控制板，测试控制板根据测试指令再下发控制测试板，控制测试板对待测试FLASH进行功能测试；主控服务器控制老化柜的温控系统，控制老化柜温度曲线控制老化柜的温度；采集测试过程的测试数据，并将该数据反馈给到主控服务器，同时将待测试FLASH的各个电气参数数据反馈给到主控服务器，主控服务器根据反馈的数据对待测试FLASH进行自动筛选和标识。本发明通过对现有测试系统进行优化合并，提高了FLASH测试的效率，减少了测试过程中对FLASH测试的移动，并提供了图形化的操作界面和结果显示界面。

主权项

一种FLASH芯片的测试系统，其特征在于包括主控服务器、老化柜和测试控制板，所述主控服务器与测试控制板相连接，所述老化柜上设有测试架，所述测试架上设有多个测试插口，待测试FLASH放置到测试板上后，将测试板插入测试插口，所述测试插口上设有与所述测试板相匹配的电连接触点；测试系统可分时对待测试FLASH进行功能测试、老化测试和筛选测试；所述的功能测试过程如下：所述主控服务器将预先设置好的测试指令下发到测试控制板，测试控制板根据接收到的测试指令再下发控制命令到各个测试板，控制测试板按照主控服务器的要求控制对待测试FLASH进行功能测试；所述老化测试具体为：所述主控服务器根据测试要求，控制老化柜的温控系统，控制老化柜按照要求的温度曲线控制老化柜的温度，对待测试FLASH进行老化测试；所述筛选测试，在功能测试和老化测试过程中同时采集测试过程的测试数据，并将该数据反馈给到主控服务器，同时将待测试FLASH的各个电气参数数据反馈给到主控服务器，主控服务器根据反馈的数据对待测试FLASH进行自动筛选和标识。