[发明专利]一种自校准的双探针微波叶尖间隙测试系统

摘要

本发明属于微波测距技术领域，提供一种带有自校准功能的双探针微波叶尖间隙测试系统，用以克服现有系统中参考信号存在不足以及温度变化引起的谐振频率偏移导致测量误差增大的缺陷。本发明包括：功分器、检测电路、基准电路、数据处理模块，由功分器产生幅度和相位均相同的两路微波信号，分别输入检测电路和基准电路，分别产生检测信号和参考信号输入数据处理模块得到微波叶尖间隙。本发明通过设定固定间距的模拟叶片，检测电路与基准电路为完全对称电路结构，有效避免温度变化引起的谐振频率的偏移带来的影响；参考信号由基准电路产生，包含入射波经过环形器和探针产生的相移；即大大降低测量误差；实现自校准双探针微波叶尖间隙测试。

主权项

1.一种自校准的双探针微波叶尖间隙测试系统，包括，功分器、检测端环形器、检测端探针、基准端环形器、基准端探针、模拟叶片及数据处理模块；由功分器产生幅度和相位均相同的两路微波信号，一路微波信号经过检测端环形器后进入高温微波传输线、再通过馈电进入检测端探针，另一路微波信号经过基准端环形器后进入高温微波传输线、再通过馈电进入基准端探针，构成对称电路结构；所述模拟叶片与待测叶片处于同一环境温度中；所述检测端探针对准待测叶片，产生反射信号经检测端探针、检测端环形器输入数据处理模块，作为检测信号；所述基准端探针对准模拟叶片、且设定基准端探针与模拟叶片为固定间隙，产生反射信号经检测端探针、检测端环形器输入数据处理模块，作为基准信号；所述数据处理模块计算输出微波叶尖间隙。