[发明专利]一种基坑监测采集器以及系统有效

专利信息
申请号: 201611245179.2 申请日: 2016-12-29
公开(公告)号: CN106759544B 公开(公告)日: 2019-07-30
发明(设计)人: 李耀军;於法明;苏鹏程 申请(专利权)人: 广东荣骏建设工程检测股份有限公司
主分类号: E02D33/00 分类号: E02D33/00
代理公司: 北京品源专利代理有限公司 11332 代理人: 孟金喆;胡彬
地址: 510380 广东省广*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 发明公开了一种基坑监测采集器以及系统,包括采集模块、处理模块和电源模块;其中,所述基坑监测采集器的所述采集模块与基坑中的多个传感器连接;所述处理模块用于接收采集指令产生控制信号,并发送至所述采集模块;所述采集模块用于根据所述控制信号对基坑中对应的一所述传感器产生激励信号,并采集所述传感器的检测信号;所述处理模块还用于接收所述采集模块发送的所述检测信号,并处理生成基坑参数信;所述电源模块用于为所述采集模块和所述处理模块提供电源信号。通过本发明提供的一种基坑监测采集器以及系统,可实现高效率的数据监测,避免由于手工记录或人工换算造成的误差,保证测量人员的人身安全,操作简单,精度高,抗干扰能力强。
搜索关键词: 采集模块 处理模块 基坑监测 采集器 基坑 电源模块 检测信号 传感器 发送 产生控制信号 传感器连接 抗干扰能力 采集指令 电源信号 激励信号 控制信号 人工换算 人身安全 数据监测 参数信 高效率 测量 采集 记录 保证
【主权项】:
1.一种基坑监测采集器,其特征在于,包括:采集模块、处理模块、电源模块和光电隔离模块;其中,所述基坑监测采集器的所述采集模块与基坑中的多个传感器连接;所述处理模块用于接收采集指令产生控制信号,并发送至所述采集模块;所述采集模块用于根据所述控制信号对基坑中对应的一所述传感器产生激励信号,并采集所述传感器的检测信号;所述处理模块还用于接收所述采集模块发送的所述检测信号,并处理生成基坑参数信号;所述电源模块用于为所述采集模块和所述处理模块提供电源信号;所述采集模块包括:通道选择电路、选频放大电路以及激振电路;所述通道选择电路用于根据所述控制信号控制所述选频放大电路以及激振电路与基坑中对应的所述传感器连接;所述激振电路用于对与之连接的所述传感器的钢弦起振;所述选频放大电路用于将与之连接的所述传感器的钢弦起振所产生的所述检测信号进行放大滤波处理;所述光电隔离模块,所述光电隔离模块分别与所述通道选择电路、所述选频放大电路、所述激振电路以及所述处理模块连接,用于将所述控制信号和所述检测信号进行电气隔离;所述光电隔离模块包括多个第一类型光电耦合器、一第二类型光电耦合器以及一第三类型光电耦合器;所述第一类型光电耦合器、第二类型光电耦合器以及第三类型光电耦均包括发光二级管、光敏三极管和上拉电阻;其中,所述第一类型光电耦合器中的所述发光二极管的输入端与所述处理模块连接;所述第一类型光电耦合器中的所述发光二极管的输出端与数字电路接地端连接;所述第一类型光电耦合器中的所述光敏三极管的发射极与模拟电路接地端连接;所述第一类型光电耦合器中的所述上拉电阻一端与所述第一类型光电耦合器中的所述光敏三极管的集电极连接;所述第一类型光电耦合器中的所述上拉电阻的另一端与所述通道选择电路连接;所述第二类型光电耦合器中的所述发光二极管的输入端与所述选频放大电路连接;所述第二类型光电耦合器中的所述发光二极管的输出端与模拟电路接地端连接;所述第二类型光电耦合器中的所述光敏三极管的发射极与数字电路接地端连接;所述第二类型光电耦合器中的所述上拉电阻一端与所述第二类型光电耦合器中的所述光敏三极管的集电极连接;所述第二类型光电耦合器中的所述上拉电阻的另一端与所述处理模块连接;所述第三类型光电耦合器中的所述发光二极管的输入端与所述处理模块连接;所述第三类型光电耦合器中的所述发光二极管的输出端与数字电路接地端连接;所述第三类型光电耦合器中的所述光敏三极管的发射极与模拟电路接地端连接;所述第三类型光电耦合器中的所述上拉电阻一端与所述第三类型光电耦合器中的所述光敏三极管的集电极连接;所述第三类型光电耦合器中的所述上拉电阻的另一端与所述激振电路连接;所述通道选择电路包括通道选择芯片;所述通道选择芯片包括控制信号输入端、公共输入端;其中,所述控制信号输入端与所述光电隔离模块中第一类型光电耦合器的所述光敏三极管的集电极连接;所述公共输入端与所述激振电路、所述选频放大电路连接;所述电源模块包括:主电源和电源隔离模块;所述主电源分别与外部电源信号线、所述电源隔离模块以及所述处理模块连接;所述电源隔离模块还与所述采集模块连接,用于将所述主电源提供的电源信号与外部电源信号隔离。
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