[发明专利]一种Schwarzschild物镜焦平面定位装置及定位方法有效
申请号: | 201611240849.1 | 申请日: | 2016-12-29 |
公开(公告)号: | CN106769883B | 公开(公告)日: | 2019-06-11 |
发明(设计)人: | 李文斌;徐海钊;张哲;王占山 | 申请(专利权)人: | 同济大学 |
主分类号: | G01N21/17 | 分类号: | G01N21/17;G01N21/01 |
代理公司: | 上海科盛知识产权代理有限公司 31225 | 代理人: | 翁惠瑜 |
地址: | 200092 *** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | 本发明涉及一种Schwarzschild物镜焦平面定位装置及定位方法,所述定位装置包括:LED照明组件,产生LED光并聚焦;样品移动组件,设置于LED照明组件和Schwarzschild物镜之间;铝薄膜样品,固定于样品移动组件上,用于承受激光等离子体光源聚焦辐照损伤和LED光背光照明;反射组件,与真空连接管连接,并插入真空连接管内;探测组件,与真空连接管连接,用于根据所述反射组件反射的光路进行铝薄膜样品成像,确定Schwarzschild物镜的焦平面,所述探测组件和反射组件位于真空连接管的两侧;计算机,分别连接样品移动组件和探测组件,控制样品移动组件的运动,并接收探测组件的成像信号。与现有技术相比,本发明具有定位精度高,实验效率快等优点。 | ||
搜索关键词: | 真空连接管 探测组件 样品移动 物镜 定位装置 反射组件 焦平面 铝薄膜 激光等离子体光源 聚焦 定位精度高 背光照明 成像信号 辐照损伤 实验效率 样品成像 光路 反射 计算机 | ||
【主权项】:
1.一种Schwarzschild物镜焦平面定位方法,该定位方法基于一定位装置实现,所述定位装置安装于极紫外辐射损伤实验平台上,所述极紫外辐射损伤实验平台包括主筒腔体(18)、靶腔腔体(19)、设置于靶腔腔体(19)内的物理靶材(2)、通过法兰(3)连接所述主筒腔体(18)和靶腔腔体(19)的真空连接管(20)以及真空泵,所述Schwarzschild物镜(11)设置于主筒腔体(18)内,其特征在于,所述定位装置包括:LED照明组件,设置于主筒腔体(18)内,产生LED光并聚焦;样品移动组件,设置于LED照明组件和Schwarzschild物镜(11)之间;铝薄膜样品(14),固定于样品移动组件上,用于承受激光等离子体光源聚焦辐照损伤和LED光背光照明;反射组件,与真空连接管(20)连接,并插入真空连接管(20)内,实现对Schwarzschild物镜(11)反向放大成像光路的900 偏折;探测组件,与真空连接管(20)连接,用于根据所述反射组件反射的光路进行铝薄膜样品(14)成像,确定Schwarzschild物镜(11)的焦平面,所述探测组件和反射组件位于真空连接管(20)的两侧;计算机(17),分别连接样品移动组件和探测组件,控制样品移动组件的运动,并接收探测组件的成像信号;所述反射组件包括螺旋式直线导入器(6)和平面反射镜(7),所述螺旋式直线导入器(6)通过法兰(3)和无氧铜垫圈(5)与真空连接管(20)连接,所述平面反射镜(7)连接于螺旋式直线导入器(6)末端,对Schwarzschild物镜(11)反向放大成像光路进行900 偏折;所述探测组件包括石英玻璃窗口(8)和CCD探测器(9),所述石英玻璃窗口(8)通过无氧铜垫圈(5)与真空连接管(20)连接,所述CCD探测器(9)对准石英玻璃窗口(8)、设置于真空连接管(20)外,且在CCD探测器(9)工作时,CCD探测器(9)到平面反射镜(7)中心的光程和平面反射镜(7)中心到物理靶材(2)表面的光程相等;所述定位方法包括以下步骤:1)旋转螺旋式直线导入器(6),移动平面反射镜(7)至真空连接管(20)的中心位置;2)设置CCD探测器(9)的位置,使得CCD探测器(9)到平面反射镜(7)中心的光程和平面反射镜(7)中心到物理靶材表面的光程相等;3)将做有针孔标记点的铝薄膜样品(14)放置于样品移动组件上,计算机(17)控制样品移动组件移动,使LED照明组件的光聚焦到铝薄膜样品(14)表面针孔标记点位置;4)计算机(17)控制样品移动组件沿着Schwarzschild物镜(11)的光轴方向移动,使CCD探测器(9)探测到经Schwarzschild物镜(11)放大以及平面反射镜(7)反射后的铝薄膜样品(14)表面针孔标记点清晰成像,将此时铝薄膜样品(14)所在的平面初步确定为Schwarzschild物镜焦平面;5)旋转螺旋式直线导入器(6)将平面反射镜(7)移出真空连接管(20)的中心位置,使主筒腔体(18)和靶腔腔体(19)处于真空状态,关闭LED照明组件;6)激光(1)辐照物理靶材(2)产生等离子体光,计算机(17)控制样品移动组件移动,利用Schwarzschild物镜(11)将等离子体光聚焦到铝薄膜样品(14)表面,使铝薄膜样品(14)仅在表面产生等离子体光辐照损伤,且沿Schwarzschild物镜(11)不同焦深位置对铝薄膜样品(14)的不同位置处进行激光等离子体光源辐照损伤实验;7)再次旋转螺旋式直线导入器(6),移动平面反射镜(7)至真空连接管(20)的中心位置,打开LED照明组件,使LED照明组件的光聚焦到铝薄膜样品(14)表面激光等离子体光源辐照损伤位置,利用Schwarzschild物镜(11)对铝薄膜样品(14)表面损伤进行反向放大成像;8)CCD探测器(9)探测铝薄膜样品(14)表面损伤形貌像传送给计算机(17),计算机(17)根据损伤光斑光强度大小随位置的变化趋势对步骤4)中初步确定Schwarzschild物镜焦平面进行调整,确定Schwarzschild物镜焦平面最终位置。
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