[发明专利]一种Schwarzschild物镜焦平面定位装置及定位方法有效

专利信息
申请号: 201611240849.1 申请日: 2016-12-29
公开(公告)号: CN106769883B 公开(公告)日: 2019-06-11
发明(设计)人: 李文斌;徐海钊;张哲;王占山 申请(专利权)人: 同济大学
主分类号: G01N21/17 分类号: G01N21/17;G01N21/01
代理公司: 上海科盛知识产权代理有限公司 31225 代理人: 翁惠瑜
地址: 200092 *** 国省代码: 上海;31
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 发明涉及一种Schwarzschild物镜焦平面定位装置及定位方法,所述定位装置包括:LED照明组件,产生LED光并聚焦;样品移动组件,设置于LED照明组件和Schwarzschild物镜之间;铝薄膜样品,固定于样品移动组件上,用于承受激光等离子体光源聚焦辐照损伤和LED光背光照明;反射组件,与真空连接管连接,并插入真空连接管内;探测组件,与真空连接管连接,用于根据所述反射组件反射的光路进行铝薄膜样品成像,确定Schwarzschild物镜的焦平面,所述探测组件和反射组件位于真空连接管的两侧;计算机,分别连接样品移动组件和探测组件,控制样品移动组件的运动,并接收探测组件的成像信号。与现有技术相比,本发明具有定位精度高,实验效率快等优点。
搜索关键词: 真空连接管 探测组件 样品移动 物镜 定位装置 反射组件 焦平面 铝薄膜 激光等离子体光源 聚焦 定位精度高 背光照明 成像信号 辐照损伤 实验效率 样品成像 光路 反射 计算机
【主权项】:
1.一种Schwarzschild物镜焦平面定位方法,该定位方法基于一定位装置实现,所述定位装置安装于极紫外辐射损伤实验平台上,所述极紫外辐射损伤实验平台包括主筒腔体(18)、靶腔腔体(19)、设置于靶腔腔体(19)内的物理靶材(2)、通过法兰(3)连接所述主筒腔体(18)和靶腔腔体(19)的真空连接管(20)以及真空泵,所述Schwarzschild物镜(11)设置于主筒腔体(18)内,其特征在于,所述定位装置包括:LED照明组件,设置于主筒腔体(18)内,产生LED光并聚焦;样品移动组件,设置于LED照明组件和Schwarzschild物镜(11)之间;铝薄膜样品(14),固定于样品移动组件上,用于承受激光等离子体光源聚焦辐照损伤和LED光背光照明;反射组件,与真空连接管(20)连接,并插入真空连接管(20)内,实现对Schwarzschild物镜(11)反向放大成像光路的900 偏折;探测组件,与真空连接管(20)连接,用于根据所述反射组件反射的光路进行铝薄膜样品(14)成像,确定Schwarzschild物镜(11)的焦平面,所述探测组件和反射组件位于真空连接管(20)的两侧;计算机(17),分别连接样品移动组件和探测组件,控制样品移动组件的运动,并接收探测组件的成像信号;所述反射组件包括螺旋式直线导入器(6)和平面反射镜(7),所述螺旋式直线导入器(6)通过法兰(3)和无氧铜垫圈(5)与真空连接管(20)连接,所述平面反射镜(7)连接于螺旋式直线导入器(6)末端,对Schwarzschild物镜(11)反向放大成像光路进行900 偏折;所述探测组件包括石英玻璃窗口(8)和CCD探测器(9),所述石英玻璃窗口(8)通过无氧铜垫圈(5)与真空连接管(20)连接,所述CCD探测器(9)对准石英玻璃窗口(8)、设置于真空连接管(20)外,且在CCD探测器(9)工作时,CCD探测器(9)到平面反射镜(7)中心的光程和平面反射镜(7)中心到物理靶材(2)表面的光程相等;所述定位方法包括以下步骤:1)旋转螺旋式直线导入器(6),移动平面反射镜(7)至真空连接管(20)的中心位置;2)设置CCD探测器(9)的位置,使得CCD探测器(9)到平面反射镜(7)中心的光程和平面反射镜(7)中心到物理靶材表面的光程相等;3)将做有针孔标记点的铝薄膜样品(14)放置于样品移动组件上,计算机(17)控制样品移动组件移动,使LED照明组件的光聚焦到铝薄膜样品(14)表面针孔标记点位置;4)计算机(17)控制样品移动组件沿着Schwarzschild物镜(11)的光轴方向移动,使CCD探测器(9)探测到经Schwarzschild物镜(11)放大以及平面反射镜(7)反射后的铝薄膜样品(14)表面针孔标记点清晰成像,将此时铝薄膜样品(14)所在的平面初步确定为Schwarzschild物镜焦平面;5)旋转螺旋式直线导入器(6)将平面反射镜(7)移出真空连接管(20)的中心位置,使主筒腔体(18)和靶腔腔体(19)处于真空状态,关闭LED照明组件;6)激光(1)辐照物理靶材(2)产生等离子体光,计算机(17)控制样品移动组件移动,利用Schwarzschild物镜(11)将等离子体光聚焦到铝薄膜样品(14)表面,使铝薄膜样品(14)仅在表面产生等离子体光辐照损伤,且沿Schwarzschild物镜(11)不同焦深位置对铝薄膜样品(14)的不同位置处进行激光等离子体光源辐照损伤实验;7)再次旋转螺旋式直线导入器(6),移动平面反射镜(7)至真空连接管(20)的中心位置,打开LED照明组件,使LED照明组件的光聚焦到铝薄膜样品(14)表面激光等离子体光源辐照损伤位置,利用Schwarzschild物镜(11)对铝薄膜样品(14)表面损伤进行反向放大成像;8)CCD探测器(9)探测铝薄膜样品(14)表面损伤形貌像传送给计算机(17),计算机(17)根据损伤光斑光强度大小随位置的变化趋势对步骤4)中初步确定Schwarzschild物镜焦平面进行调整,确定Schwarzschild物镜焦平面最终位置。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于同济大学,未经同济大学许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201611240849.1/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top