[发明专利]宽频段稳态场下场线耦合电平的测试系统有效
| 申请号： | 201611240071.4 | 申请日： | 2016-12-28 |
| 公开（公告）号： | CN106645875B | 公开（公告）日： | 2019-07-19 |
| 发明（设计）人： | 葛欣宏;金辉 | 申请（专利权）人： | 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所 |
| 主分类号： | G01R19/00 | 分类号： | G01R19/00;H04B17/345 |
| 代理公司： | 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 | 代理人： | 罗满 |
| 地址： | 130033 吉林省长春*** | 国省代码： | 吉林;22 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种宽频段稳态场下场线耦合电平的测试系统，包括：用于产生宽频段稳态场的信号发生装置；两端连接有负载的受试线缆，所述受试线缆表面设置有用于检测所述受试电缆不同位置处电场强度的电场探头；与所述负载连接的光纤电平测量装置，用于测量所述受试线缆在宽频段稳态场下产生的场线耦合电平。本发明在受试线缆表面设置电场探头，替换了现有技术中的电流探头，能够有效屏蔽干扰电平，并在天线发射某一固定场强电磁波时，能够获取受试电缆不同位置处入射的电场强度，有效提高宽频段稳态场下场线耦合电平的测试系统的测试精度。 | ||
| 搜索关键词： | 宽频段 稳态 测试系统 线耦合 电场探头 线缆表面 位置处 线缆 电缆 电平测量装置 信号发生装置 场强 电流探头 负载连接 干扰电平 天线发射 有效屏蔽 耦合电平 电磁波 场线 入射 替换 测量 光纤 测试 检测 | ||
【主权项】：
1.一种宽频段稳态场下场线耦合电平的测试系统，其特征在于，包括：用于产生宽频段稳态场的信号发生装置；两端连接有负载的受试线缆，所述受试线缆表面设置有用于检测所述受试电缆不同位置处电场强度的电场探头；与所述负载连接的光纤电平测量装置，用于测量所述受试线缆在宽频段稳态场下产生的场线耦合电平；所述信号发生装置包括：用于产生所述宽频段稳态场的信号发生器；与所述信号发生器相连，用于放大所述宽频段稳态场的功率放大器；与所述功率放大器相连，用于发射放大后的宽频段稳态场的发射天线；所述负载包括第一同轴负载和第二同轴负载，所述第一同轴负载与所述受试线缆一端相连，所述第二同轴负载通过同轴连接器与所述受试线缆的另一端相连。
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