[发明专利]用于测试条形码解码算法的测试装置及测试方法

摘要

本发明公开了一种用于测试条形码解码算法的测试装置。包括：PC机，硬件电路、光源及机械平台，PC机连接硬件电路，光源倒挂在机械平台，PC机用于保存结果及条形码算法解码，光源为图像采集提供光照强度，硬件电路用于控制调整机械平台中水平平台的位置、图像采集、条形码算法解码运算及测试结果数据传输与显示；测试方法包括(1)选择测试模式，(2)调整水平平台位置，(3)图像采集，(4)解码运算。本发明较好的解决了现有技术中的问题，可用于测试验证条形码算法能力的生成活动中。

主权项

1.一种用于测试条形码解码算法的测试装置，其特征在于：所述测试装置包括PC机，硬件电路、光源及机械平台；所述机械平台包括一个用于悬挂光源的金属架子及一个z轴方位、x轴及y轴偏转角度可变的水平平台；所述光源倒挂在所述金属架子顶端，用于提供所需的光照强度；所述硬件电路包括图像采集模块，机械控制模块以及系统供电模块；所述机械控制模块连接所述水平平台，用于控制水平平台的z轴方位的调整，x轴及y轴偏转角度的调整；所述图像采集模块用于采集图像，与所述机械控制模块连接，所述PC机作为上位机，与图像采集模块连接；所述机械控制模块包括MUC2处理器、与MUC2处理器连接的沿Z轴马达升降机、沿X轴转马达、沿Y轴转马达、重力加速度器、NANDFLASH、LCD液晶显示屏1以及按键2；所述MUC2处理器用于控制沿Z轴马达升降机、沿X轴转马达、沿Y轴转马达，控制所述水平平台的z轴方位调整，x轴及y轴偏转角度的调整；所述NANDFLASH用于存放收集到的电子图片；所述按键2用于选择测试模式；所述LCD液晶显示器1用于显示测试结果及信息；所述重力加速度器用于检测所述水平平台的z轴方位调整，x轴及y轴偏转角度的调整；所述图像采集模块还包括MCU1处理器，与MCU1处理器连接的光源强度控制模块、摄像头、SRAM、LCD液晶显示屏2、按键1、PHY电路、以及UART；所述MCU1处理器用于控制摄像头进行图像采集；所述光源强度控制模块用于控制所述光源的强度；所述摄像头位于所述水平平台的正上方，用于采集电子图片及补充光源的光照强度；所述LCD液晶显示屏2放置在由沿Z轴马达升降机、沿X轴转马达及沿Y轴转马达控制的；所述水平平台上，用于显示从所述NANDFLASH调取的电子图片；所述SRAM用于内存扩展；所述UART连接与PC机与MCU1处理器之间，用于PC机与MCU1处理器之间的数据传输；所述PHY电路连接与PC机与MCU1处理器之间，用于高速传输采集的图像；所述按键1可调节光源的光照强度及控制MCU1处理器进行单次操作。