[发明专利]用于测试条形码解码算法的测试装置及测试方法

说明书

本发明公开了一种用于测试条形码解码算法的测试装置。包括：PC机，硬件电路、光源及机械平台，PC机连接硬件电路，光源倒挂在机械平台，PC机用于保存结果及条形码算法解码，光源为图像采集提供光照强度，硬件电路用于控制调整机械平台中水平平台的位置、图像采集、条形码算法解码运算及测试结果数据传输与显示；测试方法包括(1)选择测试模式，(2)调整水平平台位置，(3)图像采集，(4)解码运算。本发明较好的解决了现有技术中的问题，可用于测试验证条形码算法能力的生成活动中。

技术领域

本发明涉及一种用于测试条形码解码算法的测试装置及测试方法。

背景技术

开发条形码模拟算法，需要模拟现实中的手机扫描条形码时的各种情况，由于手机与待扫描条形码之间会存在一定的高度与偏转角度，必须检验条形码解码算法是否符合设计初衷及现实当中的要求。因此，新开发的一套条形码解码算法，必须要在多种复杂情况下进行测试，来验证算法解码能力。例如不同的条形码离摄像头垂直距离，不同的偏转角度，不同的光照强度进行测试验证，并对测试数据结果进行保存或显示。最终检验测试结果能否达到设计标准。

现有的测试技术是通过手动控制伺服机构进行转动，模拟垂直距离变化与偏转角度变化，来进行条形码解码算法的测试。现有技术中存在缺乏在Z轴上任意升降，X轴和Y轴旋转条形码角度的能力；不能实时监控和校准条形码角度；不能满足实际多种条形码图片的测试需要；传输数据速度慢，存储数据容量小；缺乏自动测试模式和手动测试模式的切换；不能在黑夜中自动测试以及测试效率低下的技术问题。因此急需要一个较为完善的自动测试系统，提高测试效率，加快算法测试验证进度。

发明内容

本发明要解决的技术问题是现有技术中测试系统不能较为完善、自动方便的对条形码算法解码能力进行测试的技术问题，提供一种用于测试条形码解码算法的测试装置及测试方法，该技术方案具有能够在Z轴上任意升降，X轴和Y轴旋转条形码角度的能力；能够实时监控和校准条形码角度；能够存储多种电子图片，满足实际多种条形码图片的测试需要；传输数据速度快，存储容量大；具备自动测试模式且能够切换手动测试模式；能够在黑夜中自动测试以及提高测试效率的特点。

为解决上述技术问题，本发明采用的技术方案如下：

一种用于测试条形码解码算法的测试装置，所述测试装置包括PC机，硬件电路模块、光源及机械平台；

所述机械平台包括一个用于悬挂光源的金属架子及一个z轴方位、x轴及y轴偏转角度可变的水平平台；

所述光源倒挂在所述金属架子顶端，用于提供所需的光照强度；

所述硬件电路包括图像采集模块，机械控制模块以及系统供电模块；

所述机械控制模块连接所述机械平台，用于控制水平平台的z轴方位的调整，x轴及y轴偏转角度的调整；

所述图像采集模块用于采集图像，与所述机械控制模块连接，

所述供电模块用于给所述硬件电路供电；

所述PC机作为上位机，与图形采集模块连接。

上述技术方案中，进一步地，所述机械控制模块包括MCU2处理器、与MCU2处理器连接的沿Z轴马达升降机、沿X轴转马达、沿Y轴转马达、重力加速度器、NANDFLASH、LCD液晶显示屏1以及按键2；

所述MCU2处理器用于控制沿Z轴马达升降机、沿X轴转马达、沿Y轴转马达；

所述NANDFLASH用于存放收集到的电子图片；

所述按键2用于选择测试模式；

所述LCD液晶显示器1用于显示测试结果及信息；

所述重力加速度器用于检测所述水平平台的z轴方位调整，x轴及y轴偏转角度的调整；