[发明专利]ARC功能的测试方法和装置有效

专利信息
申请号: 201611222991.3 申请日: 2016-12-26
公开(公告)号: CN106597170B 公开(公告)日: 2019-10-15
发明(设计)人: 吴雪峰 申请(专利权)人: TCL王牌电器(惠州)有限公司
主分类号: G01R31/00 分类号: G01R31/00
代理公司: 深圳市世纪恒程知识产权代理事务所 44287 代理人: 胡海国
地址: 516006 广*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 发明公开了一种ARC功能的测试方法,所述ARC功能的测试方法包括以下步骤:通过HDMI线与待测显示设备的HDMI端口连接,并接收待测显示设备的热插拔检测信号;获取所述待测显示设备的EDID,并根据所述EDID解析出所述待测显示设备的PHY地址;与所述PHY地址建立通信;发送ARC开启命令至所述PHY地址以开启所述待测显示设备的ARC功能,所述待测显示设备在ARC功能开启后发出ARC波形;检测所述待测显示设备发出的ARC波形,并根据所述ARC波形判断所述待测显示设备的ARC功能是否正常。本发明还公开了一种ARC功能的测试装置。本发明提高了显示设备的ARC功能的测试效率。
搜索关键词: arc 功能 测试 方法 装置
【主权项】:
1.一种ARC功能的测试方法,其特征在于,所述ARC功能的测试方法包括如下步骤:通过HDMI线与待测显示设备的HDMI端口连接,并接收待测显示设备的热插拔检测信号;获取所述待测显示设备的EDID,并根据所述EDID解析出所述待测显示设备的PHY地址;与所述PHY地址建立通信;检测所述待测显示设备是否发出了所述ARC波形;若是,则判断所述待测显示设备的ARC功能异常;若否,发送ARC开启命令至所述PHY地址以开启所述待测显示设备的ARC功能,所述待测显示设备在ARC功能开启后发出ARC波形;检测所述待测显示设备发出的ARC波形,并根据所述ARC波形判断所述待测显示设备的ARC功能是否正常。
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