[发明专利]ARC功能的测试方法和装置有效
申请号: | 201611222991.3 | 申请日: | 2016-12-26 |
公开(公告)号: | CN106597170B | 公开(公告)日: | 2019-10-15 |
发明(设计)人: | 吴雪峰 | 申请(专利权)人: | TCL王牌电器(惠州)有限公司 |
主分类号: | G01R31/00 | 分类号: | G01R31/00 |
代理公司: | 深圳市世纪恒程知识产权代理事务所 44287 | 代理人: | 胡海国 |
地址: | 516006 广*** | 国省代码: | 广东;44 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本发明公开了一种ARC功能的测试方法,所述ARC功能的测试方法包括以下步骤:通过HDMI线与待测显示设备的HDMI端口连接,并接收待测显示设备的热插拔检测信号;获取所述待测显示设备的EDID,并根据所述EDID解析出所述待测显示设备的PHY地址;与所述PHY地址建立通信;发送ARC开启命令至所述PHY地址以开启所述待测显示设备的ARC功能,所述待测显示设备在ARC功能开启后发出ARC波形;检测所述待测显示设备发出的ARC波形,并根据所述ARC波形判断所述待测显示设备的ARC功能是否正常。本发明还公开了一种ARC功能的测试装置。本发明提高了显示设备的ARC功能的测试效率。 | ||
搜索关键词: | arc 功能 测试 方法 装置 | ||
【主权项】:
1.一种ARC功能的测试方法,其特征在于,所述ARC功能的测试方法包括如下步骤:通过HDMI线与待测显示设备的HDMI端口连接,并接收待测显示设备的热插拔检测信号;获取所述待测显示设备的EDID,并根据所述EDID解析出所述待测显示设备的PHY地址;与所述PHY地址建立通信;检测所述待测显示设备是否发出了所述ARC波形;若是,则判断所述待测显示设备的ARC功能异常;若否,发送ARC开启命令至所述PHY地址以开启所述待测显示设备的ARC功能,所述待测显示设备在ARC功能开启后发出ARC波形;检测所述待测显示设备发出的ARC波形,并根据所述ARC波形判断所述待测显示设备的ARC功能是否正常。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于TCL王牌电器(惠州)有限公司,未经TCL王牌电器(惠州)有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201611222991.3/,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:电子设备的测试装置
- 下一篇:一种检测双馈变频器网侧滤波电容损坏的方法