[发明专利]一种成像光谱仪自动定标的方法及装置有效
申请号: | 201611220116.1 | 申请日: | 2016-12-26 |
公开(公告)号: | CN106855433B | 公开(公告)日: | 2019-01-22 |
发明(设计)人: | 王明佳;张锐;尹禄;潘明忠;姚雪峰;崔继承 | 申请(专利权)人: | 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所 |
主分类号: | G01J3/28 | 分类号: | G01J3/28 |
代理公司: | 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 | 代理人: | 罗满 |
地址: | 130033 吉林省长春*** | 国省代码: | 吉林;22 |
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摘要: | 本发明实施例公开了一种成像光谱仪自动定标的方法,通过获取各定标波长在成像光谱仪的成像图中对应的光斑标准位置;然后在当前需要定标的成像光谱仪的成像图中匹配与各所述定标波长对应的光斑位置;计算当前光斑位置与光斑标准位置的偏移量,根据偏移量来确定搜索因子;根据搜索因子以及与定标最佳光学设计参数利用预设算法计算得到当前最佳光学设计参数,再根据计算得到的当前最佳光学设计参数对成像光谱仪进行定标。本申请的技术方案在获取光学设计最佳光学设计参数时通过缩小搜索范围,大大缩减了计算时间,从而提高了定标的效率。此外,本发明实施例还提供了相应的实现装置,进一步使得所述方法更具有实用性,所述装置具有相应的优点。 | ||
搜索关键词: | 一种 成像 光谱仪 自动 标的 方法 装置 | ||
【主权项】:
1.一种成像光谱仪自动定标的方法,其特征在于,包括:获取各定标波长在成像光谱仪的成像图中对应的光斑标准位置,根据当前成像光谱仪的成像图中各所述定标波长对应的光斑位置与所述光斑标准位置计算二者整体的偏移量;根据所述偏移量以及调整常数确定搜索因子;根据所述搜索因子以及与定标最佳光学设计参数利用预设算法计算得到当前最佳光学设计参数,根据所述当前最佳光学设计参数对所述成像光谱仪进行定标;其中,利用下述预设算法计算得到当前最佳光学设计参数:
式中,i、j和k分别为光栅入射角、棱镜入射角、系统焦距;u、v和w分别为出厂定标的最佳光栅入射角、最佳棱镜入射角、最佳系统焦距;edge1、edge2、edge3为允许相应参数的调整范围;Xi、Yi为光斑的理论位置对应的x坐标位置以及y坐标位置;xi、yi为光斑的标准位置对应的x坐标位置以及y坐标位置;besti、bestj、bestk依次为最佳光栅入射角、最佳棱镜入射角、最佳系统焦距;Δu、Δv为搜索因子。
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