[发明专利]一种航天器用数字硬IP核功能及性能评测方法

摘要

一种航天器用数字硬IP核功能及性能评测方法。本发明评测方法解决了空间辐射环境和航天器高可靠应用条件下的硬IP核功能及性能评测难题，具有操作简便、自动化程度高、评测效率高等特点，减少了评测的操作环节，提高了评测的可操作性。本发明方法对硬IP核进行仿真和试验相结合的评测方式，充分保证了其空间环境下的可靠性与适应性，具有评测更为充分的优点。

主权项

1.一种航天器用数字硬IP核功能及性能评测方法，其特征在于包括如下步骤：(1)获取硬IP核包括全版图寄生电路参数的电路门级网表，然后根据全版图寄生电路参数的电路门级网表构建覆盖硬IP核所有功能的测试向量；(2)令硬IP核仿真执行步骤(1)得到的所有测试向量获得实际仿真结果，然后获取各个测试向量对应的预期功能波形，将各个测试向量的实际仿真结果与预期功能波形进行比对，如果两者一致，则判定硬IP核功能正确，否则判定硬IP核功能不正确；(3)统计步骤(2)中对比正确的功能数，进而计算得到硬IP核对比正确的功能数与所有功能数的比值，如果比值为1，则判定硬IP核功能验证充分，否则判定硬IP核功能验证不充分；(4)获取硬IP核标定的工艺信息，然后根据工艺信息将硬IP核进行流片和封装；(5)利用ATE测试机台在电压拉偏10％条件下完成硬IP核的功能测试，得到硬IP核功能实际测试结果，然后将实际测试结果与预期功能波形进行比对，如果两者一致，则判定硬IP核硅形态验证条件下功能正确，否则判定硬IP核硅形态验证条件下功能不正确；(6)利用ATE测试机台在电压拉偏10％条件下完成硬IP核的直流电源电压、输入漏电流、三态输出漏电流、输出普通管脚驱动测试，然后将实际测试结果与预期电性能参数进行比对，如果实际测试结果在预期电性能参数范围内，则判定硬IP核硅形态验证条件下性能正确，否则判定硬IP核硅形态验证条件下性能不正确；(7)利用老炼测试机台对硬IP核进行动态老炼和静态老炼试验，然后将实际测试结果与预期电性能参数进行比对，如果实际测试结果在预期电性能参数范围内，则判定硬IP核的老炼结果正确，否则判定硬IP核的老炼结果不正确；(8)利用寿命测试机台进行硬IP核寿命考核试验，然后将实际测试结果与预期电性能参数进行比对，如果实际测试结果在预期电性能参数范围内，则判定硬IP核的寿命指标正确，否则判定硬IP核的寿命指标不正确；(9)利用ESD测试和闩锁测试机台对硬IP核进行抗静电试验和抗闩锁试验，然后将实际测试结果与预期抗静电指标和抗闩锁指标进行比对，如果两者一致，则判定硬IP核的ESD和闩锁指标正确，否则判定硬IP核的ESD和闩锁指标不正确；(10)对硬IP核进行电离总剂量辐照试验并判断，如果电离总剂量辐照试验后硬IP核功能错误或性能指标异常，则判定IP核电离总剂量辐照试验不通过，否则判定IP核电离总剂量辐照试验通过，对硬IP核进行单粒子效应辐照试验并判断，如单粒子效应试验后硬IP核单粒子翻转或超过锁定阈值，则判定IP核单粒子辐照试验不通过，否则判定IP核单粒子辐照试验通过。