[发明专利]一种航天器用数字硬IP核功能及性能评测方法

权利要求书

1.一种航天器用数字硬IP核功能及性能评测方法，其特征在于包括如下步骤：

(1)获取硬IP核包括全版图寄生电路参数的电路门级网表，然后根据全版图寄生电路参数的电路门级网表构建覆盖硬IP核所有功能的测试向量；

(2)令硬IP核仿真执行步骤(1)得到的所有测试向量获得实际仿真结果，然后获取各个测试向量对应的预期功能波形，将各个测试向量的实际仿真结果与预期功能波形进行比对，如果两者一致，则判定硬IP核功能正确，否则判定硬IP核功能不正确；

(3)统计步骤(2)中对比正确的功能数，进而计算得到硬IP核对比正确的功能数与所有功能数的比值，如果比值为1，则判定硬IP核功能验证充分，否则判定硬IP核功能验证不充分；

(4)获取硬IP核标定的工艺信息，然后根据工艺信息将硬IP核进行流片和封装；

(5)利用ATE测试机台在电压拉偏10％条件下完成硬IP核的功能测试，得到硬IP核功能实际测试结果，然后将实际测试结果与预期功能波形进行比对，如果两者一致，则判定硬IP核硅形态验证条件下功能正确，否则判定硬IP核硅形态验证条件下功能不正确；

(6)利用ATE测试机台在电压拉偏10％条件下完成硬IP核的直流电源电压、输入漏电流、三态输出漏电流、输出普通管脚驱动测试，然后将实际测试结果与预期电性能参数进行比对，如果实际测试结果在预期电性能参数范围内，则判定硬IP核硅形态验证条件下性能正确，否则判定硬IP核硅形态验证条件下性能不正确；

(7)利用老炼测试机台对硬IP核进行动态老炼和静态老炼试验，然后将实际测试结果与预期电性能参数进行比对，如果实际测试结果在预期电性能参数范围内，则判定硬IP核的老炼结果正确，否则判定硬IP核的老炼结果不正确；

(8)利用寿命测试机台进行硬IP核寿命考核试验，然后将实际测试结果与预期电性能参数进行比对，如果实际测试结果在预期电性能参数范围内，则判定硬IP核的寿命指标正确，否则判定硬IP核的寿命指标不正确；

(9)利用ESD测试和闩锁测试机台对硬IP核进行抗静电试验和抗闩锁试验，然后将实际测试结果与预期抗静电指标和抗闩锁指标进行比对，如果两者一致，则判定硬IP核的ESD和闩锁指标正确，否则判定硬IP核的ESD和闩锁指标不正确；

(10)对硬IP核进行电离总剂量辐照试验并判断，如果电离总剂量辐照试验后硬IP核功能错误或性能指标异常，则判定IP核电离总剂量辐照试验不通过，否则判定IP核电离总剂量辐照试验通过，对硬IP核进行单粒子效应辐照试验并判断，如单粒子效应试验后硬IP核单粒子翻转或超过锁定阈值，则判定IP核单粒子辐照试验不通过，否则判定IP核单粒子辐照试验通过。

2.根据权利要求1所述的一种航天器用数字硬IP核功能及性能评测方法，其特征在于：所述的步骤(5)中利用ATE测试机台在电压拉偏10％条件下完成硬IP核的功能测试的温度包括125℃、-55℃、25℃。

3.根据权利要求1或2所述的一种航天器用数字硬IP核功能及性能评测方法，其特征在于：所述的步骤(6)中利用ATE测试机台在电压拉偏10％条件下完成硬IP核直流电源电压、输入漏电流、三态输出漏电流、输出普通管脚驱动测试的温度包括125℃、-55℃、25℃。

4.根据权利要求1或2所述的一种航天器用数字硬IP核功能及性能评测方法，其特征在于：所述的步骤(7)中的动态老炼试验为168小时，静态老炼试验为72小时。

5.根据权利要求1或2所述的一种航天器用数字硬IP核功能及性能评测方法，其特征在于：所述的步骤(8)中的利用寿命测试机台进行硬IP核寿命考核试验的温度为125℃。完成硬IP核2000小时寿命考核试验；或提供相同工艺基线下4000小时的寿命考核试验数据；将实际测试结果或相同工艺基线下4000小时寿命考核试验数据与理论预期结果进行比对，当两者一致时判定硬IP核的寿命指标正确，当两者不一致时判定硬IP核的寿命指标不正确，然后进入下一步。

6.根据权利要求1或2所述的一种航天器用数字硬IP核功能及性能评测方法，其特征在于：所述的步骤(8)中的利用寿命测试机台进行硬IP核寿命考核试验的时间为2000小时或者4000小时。