[发明专利]一种测试向量的生成方法及装置有效
| 申请号： | 201611197099.4 | 申请日： | 2016-12-22 |
| 公开（公告）号： | CN108226743B | 公开（公告）日： | 2020-04-24 |
| 发明（设计）人： | 齐豫;葛一凡 | 申请（专利权）人： | 深圳市中兴微电子技术有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28 |
| 代理公司： | 北京天昊联合知识产权代理有限公司 11112 | 代理人： | 彭瑞欣;张天舒 |
| 地址： | 518055 广东省深*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明实施例公开了一种测试向量的生成方法及装置，该方法包括：获取待测芯片对应的全部时钟域；将全部时钟域划分到多个目标集合中；其中，各个目标集合中的任意两个时钟域之间均不存在交互关系且至少一个目标集合包括不同时钟域类型的时钟域；根据各个目标集合生成所述待测芯片的各个测试向量。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 测试 向量 生成 方法 装置 | ||
【主权项】：
1.一种测试向量的生成方法，其特征在于，所述方法包括：获取待测芯片对应的全部时钟域；将全部时钟域划分到多个目标集合中；其中，各个目标集合中的任意两个时钟域之间均不存在交互关系且至少一个目标集合包括不同时钟域类型的时钟域；根据各个目标集合生成所述待测芯片的各个测试向量。
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