[发明专利]基于塑化成型抛光的X荧光分析用样片的制备方法有效
| 申请号： | 201611183814.9 | 申请日： | 2016-12-20 |
| 公开（公告）号： | CN106706388B | 公开（公告）日： | 2019-04-09 |
| 发明（设计）人： | 徐建平;陆泰 | 申请（专利权）人： | 武汉科技大学 |
| 主分类号： | G01N1/28 | 分类号： | G01N1/28;G01N23/223 |
| 代理公司： | 武汉科皓知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 42222 | 代理人： | 张火春 |
| 地址： | 430081 湖北*** | 国省代码： | 湖北;42 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明涉及一种基于塑化成型抛光的X荧光分析用样片的制备方法。其技术方案是：按结合剂粉末∶样品粉末的质量比为1∶（1~5），将所述结合剂粉末与所述样品粉末混合，得到混合粉；再将所述混合粉压制成片状，制得样片坯；然后将所述样片坯在95~150℃条件下保温20~60min，冷却，抛光，制得基于塑化成型抛光的X荧光分析用样片。其中：所述结合剂粉末为聚乙烯醇和聚乙烯中的一种或两种，所述结合剂粉末的粒度小于0.2mm；所述样品粉末的粒度小于0.2mm；所述压制为机械压制或为人工压制；所述抛光为机械抛光或为手工抛光。本发明具有成片率高、低压成型、能消除基于塑化成型抛光的X荧光分析用样片的工作面污染和消除包覆效应的特点。 | ||
| 搜索关键词： | 抛光 塑化成型 结合剂 样品粉末 压制 混合粉 制备 聚乙烯 醇和聚乙烯 工作面污染 低压成型 机械抛光 机械压制 手工抛光 成片状 质量比 包覆 保温 冷却 | ||
【主权项】：
1.一种基于塑化成型抛光的X荧光分析用样片的制备方法，其特征在于所述制备方法是：按结合剂粉末∶样品粉末的质量比为1∶(1～5)，将所述结合剂粉末与所述样品粉末混合，得到混合粉；再将所述混合粉压制成片状，制得样片坯；然后将所述样片坯在95～150℃条件下保温20～60min，冷却，抛光，制得基于塑化成型抛光的X荧光分析用样片；所述结合剂粉末为聚乙烯醇和聚乙烯中的一种或两种，所述结合剂粉末的粒度小于0.2mm。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于武汉科技大学，未经武汉科技大学许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201611183814.9/，转载请声明来源钻瓜专利网。
