[发明专利]一种用于微波引导设备方位角度检验的测量方法有效
| 申请号： | 201611174038.6 | 申请日： | 2016-12-19 |
| 公开（公告）号： | CN106767677B | 公开（公告）日： | 2018-12-11 |
| 发明（设计）人： | 王冀龙;王琳 | 申请（专利权）人： | 中国电子科技集团公司第二十研究所 |
| 主分类号： | G01C1/02 | 分类号： | G01C1/02 |
| 代理公司： | 西北工业大学专利中心 61204 | 代理人： | 顾潮琪 |
| 地址： | 710068 *** | 国省代码： | 陕西;61 |
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| 摘要： | 本发明提供了一种用于微波引导设备方位角度检验的测量方法，在微波引导设备的覆盖范围内任意选取一点，放置地面专用测角设备和测角测试天线；再选取任意一个能够目视到微波引导设备的方位天线和测角测试天线的位置架设经纬仪；使用经纬仪获得方位天线中心、方位天线平面上的任意辅助点和测角测试天线中心的位置；进而解算出测角测试天线相对于方位天线中心的水平角度；将水平角度与地面专用测角接收设备提供的方位角数据对比求差来判断微波引导设备的精度，从而判断微波引导设备的指标是否达标。本发明可以更精准、便捷的检验微波引导设备的性能指标。 | ||
| 搜索关键词： | 引导设备 微波 测角 测试天线 方位天线 经纬仪 角度检验 测量 方位角数据 接收设备 辅助点 目视 解算 求差 架设 达标 覆盖 检验 | ||
【主权项】：
1.一种用于微波引导设备方位角度检验的测量方法，其特征在于包括下述步骤：(1)在微波引导设备的覆盖范围内任意选取一点，放置地面专用测角设备和测角测试天线；再选取任意一个能够目视到微波引导设备的方位天线和测角测试天线的位置架设经纬仪；使用经纬仪获得方位天线中心位置(L1,θ11,θ12)、方位天线平面上的任意辅助点位置(L2,θ21,θ22)和测角测试天线中心位置(L3,θ31,θ32)；其中L1是方位天线中心到经纬仪的斜距，θ11是方位天线中心点到经纬仪的俯仰角度，θ12是方位天线中心点到经纬仪的水平角度，L2是辅助点到经纬仪的斜距，θ21是辅助点到经纬仪的俯仰角度，θ22是辅助点到经纬仪的水平角度，L3是测角测试天线中心到经纬仪的斜距，θ31是测角测试天线中心到经纬仪的俯仰角度，θ32是测角测试天线中心到经纬仪的水平角度；(2)通过方位天线中心位置(L1,θ11,θ12)、方位天线平面上的任意辅助点位置(L2,θ21,θ22)和测角测试天线中心位置(L3,θ31,θ32)计算获得中间变量l1、l2、l3、l4、l5、l6：l1＝L1×COSθ11l2＝L2×COSθ21l3＝L3×COSθ31l4＝(l12+l32－2×l1l3COS(θ32－θ12))1/2l5＝(l12+l22－2×l1l2COS(θ22－θ12))1/2l6＝(l32+l22－2×l3l2COS(θ32－θ22))1/2解算出测角测试天线相对于方位天线中心的水平角度θ方位＝90°－arcos((l52+l42－l62)/(2×l4l5))；(3)将计算出的θ方位与地面专用测角接收设备提供的方位角数据对比求差，得到△θ方位来判断微波引导设备的精度，从而判断微波引导设备的指标是否达标。
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