[发明专利]粗糙度测量装置和方法

摘要

本发明公开了一种粗糙度测量装置和方法，属于粗糙度测量领域。所述粗糙度测量装置包括：不透光箱体、激光源、光强检测单元、动力机构和信号处理单元；不透光箱体的底板用于放置待测物体，激光源设置在箱体内，且激光源的出光方向与底板垂直，光强检测单元与动力机构相连，在动力机构带动下沿预定轨道运动，预定轨道为半圆形，半圆形处在垂直于底板的平面内，半圆形的圆心为激光源发出的激光照射在底板上的光斑的中心；信号处理单元用于获取光强检测单元的检测信号，检测信号包括光强检测单元在不同角度处检测的光强，角度为光斑的中心与光强检测单元的连线与激光间的夹角；根据光强检测单元在不同角度处检测的光强确定待测物体表面的粗糙度。

主权项

1.一种粗糙度测量装置，其特征在于，所述粗糙度测量装置包括：不透光箱体、激光源、光强检测单元、动力机构和信号处理单元；所述不透光箱体的底板用于放置待测物体，所述激光源设置在所述箱体内，且所述激光源的出光方向与所述底板垂直，所述光强检测单元与所述动力机构相连，在所述动力机构带动下沿预定轨道运动，所述预定轨道为半圆形，所述半圆形处在垂直于所述底板的平面内，所述半圆形的圆心为所述激光源发出的激光照射在所述待测物体上的光斑的中心；所述信号处理单元用于获取所述光强检测单元的检测信号，所述检测信号包括所述光强检测单元在不同角度处检测的光强，所述角度为所述光斑的中心与所述光强检测单元的连线与所述激光间的夹角；根据所述光强检测单元在不同角度处检测的光强确定所述待测物体表面的粗糙度；所述信号处理单元用于采用如下公式计算所述待测物体表面的粗糙度：其中，σ为所述待测物体表面的粗糙度，N为所述光斑内微平面数量，所述光斑内微平面分为n组，第i组微平面的法线角为θ_i，第i组微平面中微平面的数量为n_i；I＝SUM{I₁,I₂,…,I_n}，I_i为第i组微平面对应的散射光强，i＝1，2，……n。