[发明专利]多能谱X射线成像系统和用于利用多能谱X射线成像系统对待测物品进行物质识别的方法有效
| 申请号： | 201611159090.4 | 申请日： | 2016-12-07 |
| 公开（公告）号： | CN108181326B | 公开（公告）日： | 2020-08-18 |
| 发明（设计）人： | 徐光明;刘必成;赵自然;顾建平;李强;张岚 | 申请（专利权）人： | 同方威视技术股份有限公司 |
| 主分类号： | G01N23/04 | 分类号： | G01N23/04 |
| 代理公司： | 中科专利商标代理有限责任公司 11021 | 代理人： | 杨姗 |
| 地址： | 100084 北京*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种用于利用多能谱X射线成像系统对待测物品进行物质识别的方法，包括：获得所述待测物品在N个能区中的透明度值组成的透明度相关向量，其中N大于2；计算所述透明度相关向量与所述系统中存储的多种物品在多种厚度的情况下在所述N个能区中的N个透明度均值组成的透明度相关向量之间的距离；以及将所述待测物品识别为与最小距离相对应的物品。本发明基于多能谱X射线成像系统，通过对多能谱物质识别问题的分析，提出了一种物质识别的方法。相对传统双能X射线系统，多能谱成像理论上可以显著提高系统的物质识别能力，特别是在安检应用领域，物质识别能力的提升对于毒品爆炸物等违禁品的查验具有重要意义。 | ||
| 搜索关键词： | 多能 射线 成像 系统 用于 利用 对待 物品 进行 物质 识别 方法 | ||
【主权项】：
1.一种用于利用多能谱X射线成像系统对待测物品进行物质识别的方法，包括：选择N个能区中的一个或多个能区作为基准能区；获得所述待测物品在N个能区中的相应N个透明度值；根据所述待测物品在被选择作为基准能区的所述一个或多个能区中的透明度值来计算基准透明度值；根据所述基准透明度值和所述N个透明度值计算所述待测物在N个能区中的相对质量衰减系数值；确定多个现有物品中具有与所述相对质量衰减系数值最接近的相对质量衰减系数的物品，并将所述待测物识别为所确定的物品。
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