[发明专利]透射光学元件疵病测试装置及方法有效

专利信息
申请号: 201611147850.X 申请日: 2016-12-13
公开(公告)号: CN106841236B 公开(公告)日: 2023-04-11
发明(设计)人: 陈永权;段亚轩;赵建科;李坤;聂申;宋琦 申请(专利权)人: 中国科学院西安光学精密机械研究所
主分类号: G01N21/958 分类号: G01N21/958
代理公司: 西安智邦专利商标代理有限公司 61211 代理人: 陈广民
地址: 710119 陕西省西*** 国省代码: 陕西;61
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摘要: 为了解决传统测试方法耗时耗力、对光学元件内部的疵病测量受限的弊端,本发明提供了一种透射光学元件疵病的测试装置及方法,其中装置包括激光器、准直镜、定焦镜头、CCD、移动机构和采集控制计算机;所述准直镜设置在激光器的输出光路上;所述定焦镜头和CCD刚性连接组成成像系统,成像系统的监视面通过定焦镜头和CCD感光面成共轭关系;所述成像系统固定在移动机构上;所述移动机构与采集控制计算机相连。
搜索关键词: 透射 光学 元件 测试 装置 方法
【主权项】:
透射光学元件疵病的测试装置,其特征在于:包括激光器、准直镜、定焦镜头、CCD、移动机构和采集控制计算机;所述准直镜设置在激光器的输出光路上;所述定焦镜头和CCD刚性连接组成成像系统,成像系统的监视面通过定焦镜头和CCD感光面成共轭关系;所述成像系统固定在移动机构上;所述移动机构与采集控制计算机相连。
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